J-RASの製品・サービス一覧

『HVUαシリーズ』は、部分放電による瞬間的な電流変化も検出可能な 高電圧絶縁信頼性試験装置です。 最大4000Vの印加電圧で高電圧デバイスのTDDB試験、インバーター回路基板等の エレクトロケミカルマイグレーション試験、各種高電圧部品の絶縁信頼性試験 などにご活用頂けます。 また印加電圧は、1チャンネル単位で100V～4000Vの間で任意に設定可能。 1000V、2000V、3000Vのモデルも標準ラインアップしています。 【特長】 ■最大4000Vの高電圧で様々な用途に対応 ■部分放電による瞬間的な電流変化も検出可能 ■全CH個別フィードバック制御で安定した電圧印加 ■PC1台で最大200チャンネルまで拡張可能 ■アクティブガードケーブルで低ノイズ計測 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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『ECM-500シリーズ』は、最大500Vの印加電圧でプリント配線板、電子材料 などの絶縁信頼性 評価試験ができる高精度テスターです。 CH毎に印加電圧設定が可能な電源出力回路は、フィードバック制御により サンプル両端電圧が設定値になるように常時コントロールします。 また、高性能、低ノイズの半導体を用い、プリント基板の配線パターンにまで 配慮した高精度で信頼性の高い専用設計の計測回路を採用しています。 【特長】 ■DC1V～500Vの広範囲印加電圧レンジ ■チャンネル個別印加電圧制御 ■高速、高精度データ計測 ■高速リークタッチ検出 ■チャンネル個別電流リミッター ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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『RTm-100シリーズ』は、回路パターン、はんだ接合部等の導通抵抗を 高速、高精度に計測する装置です。 当シリーズの高性能計測回路はミリΩ未満の導通抵抗の変化を正確に とらえ、ヒートショックチャンバーと組み合わせ、温度サイクルに 連動したデータ計測が可能です。 更に、半導体リレーによる高速スキャン機能により、サイクル時間の 短い試験にも十分に追従し、各サイクルに対して計測のタイミングが ずれる事もありません。 【特長】 ■最大50msec/CH の高速データ計測を実現 ■半導体リレー採用で計測精度を向上 ■専用計測回路、専用ケーブルによりノイズ低減 ■マルチ電流源によるAC/DC 印加計測 ■モジュール構造で容易な保守性を実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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最大５０チャンネルまでの、高電圧での絶縁信頼性試験ができる、評価試験装置です。 ◆特徴◆ ◇最大３０００Ｖまでの高電圧出力 　高電圧デバイスの評価が可能。 ◇独立電源を採用 　１つのサンプルが短絡しても、他のサンプルが継続試験できます。 ◇多チャンネル　最大５０個 　１筐体で５０個までのサンプル評価ができるため、 　デバイス評価の効率が格段に向上します。 ◇過酷な環境に強い専用計測ケーブル 　テフロン皮膜ケーブルの採用で、恒温恒湿槽内へ 　直接ケーブルを挿入しての試験も行えます。 ※詳細は資料請求またはダウンロードからお問い合わせください。

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【一括数百個の試験ができ、リアルタイムデータ集計が可能】 □圧倒的な使い勝手の良さ 　◇ハイサイド計測の採用により、試料へのはんだ付け工数が大幅削減 　◇簡単操作のソフトウェアにより、直感的な操作が行えます 　◇レポート機能を搭載しています □高性能＆高機能 　◇印加と計測はｃｈ毎に完全独立で１６ｍｓの計測間隔を達成 　◇最大４００ｃｈまでの増設が可能です 　◇各チャンネル毎に試験電圧が設定可能です □高い信頼性 　◇自己診断機能により異常計測を未然に防止 　◇データをＣＦカードへ記録するため、簡単にデータ抽出が可能 □シンプルなシステム 　◇テスター本体だけで計測が可能 　◇標準で１〜３００Ｖのワイド印加電圧レンジ 　◇シンプルな構成のためメンテナンス性に優れます

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