日本レーザーの会社概要

SEMICON Japan 2026では、半導体の研究開発から製造までを支える計測・検査装置をご紹介します。 ■会期：2026年12月9日（水）～11日（金） ■会場：東京ビッグサイト ■小間番号：E2708 ■ご来場：事前来場登録制 ■出展予定品 ・ワイヤーグリッド偏光子／メタレンズ（Moxtek） ・非接触3D面粗さ計測装置 S mart（SENSOFAR） ・レーザー欠陥スキャナー PrimaScan（Onto Innovation） ・300mm対応AFM-IR Vista300（Molecular Vista） ・AFM Nanoview 1000（FSM Precision） ・伝導性AFM Nano-Observer（CSInstruments） ・光実装用3Dプリンタ Quantum X align（Nanoscribe） ・ナノ位置決めステージ／変位センサ（attocube） ・超解像光学顕微鏡 NANORO M（LIG Nanowise） ・ウェハ歪み測定センサ※開発中（Fringe Metrology） ぜひお立ち寄りください。

時間相関単一光子計数（TCSPC）を中心とした時間分解分光の計測機器をはじめ、単一分子感度の時間分解型共焦点蛍光顕微鏡、超高安定性干渉計など、光物性研究に役立つ製品をご紹介します。研究テーマに合わせた構成のご相談も承ります。 ■会期：2026年12月11日（金）・12日（土） ■会場：熊本大学 百周年記念館（熊本市中央区黒髪2-39-1） ■小間番号：未定 ■ご来場：事前参加登録（有料） ■出展予定品 ・TCSPC・時間タグ付け装置（PicoQuant） ・単一分子感度 時間分解型共焦点蛍光顕微鏡 MicroTime 200（PicoQuant） ・超高安定性干渉計「GEMINI」（NIREOS） 会場にて皆様のお越しをお待ちしております。

噴霧や液滴の挙動解析、流れ場の可視化に活用いただける可視化レーザー／PIV（粒子画像流速測定）システムをご紹介します。 光源の選定から計測システム全体の構成まで、お客様の実験条件に合わせたご提案をいたします。 ■会期：2026年12月16日（水）～17日（木） ■会場：岡山コンベンションセンター（岡山市北区駅元町14-1） ■ご来場：事前参加登録（有料） ■出展予定品 ・可視化レーザー／PIVシステム 計測に関するご相談など、お気軽にお立ち寄りください。