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『プローブカード』は、半導体の製造工程の中で、ウエハーテストとよばれる 電気的な検査を行う工程で用いられます。 当社の主力製品「アドバンストプローブカード(Mタイププローブカード)」は、 半導体ウエハー上につくられたマイクロチップを同時に多数測定することに 優れています。 スマートフォンにも搭載されているDRAMやNAND型フラッシュメモリー等の 検査に使われています。 【特長】 ■マイクロチップを同時に多数測定することに優れている ■DRAMやNAND型フラッシュメモリー等の検査に使用可能 ■MEMSとよばれる高度な技術も用いられている ※お気軽にお問い合わせ下さい。
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