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車載機器の品質向上のために、「JTAGバウンダリスキャンテスト」を導入した お客様をご紹介いたします。 JTAGバウンダリスキャンの機能を検証・評価するため、多くのLSIメーカで 『JTAG ProVision』が採用されています。 この度、Spansion Inc.社からも日本国内での技術サポート体制が整っている アンドールシステムサポートに、LSI評価の協力をご依頼頂きました。 【事例】 <Spansion Inc.社> ■フラッシュメモリおよびマイコン/アナログ・ソリューションに 特化した企業 ■車載向けLSIの評価・検証にJTAGテストを採用 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基板実装の検査工程で、「JTAGバウンダリスキャンテスト」を導入したお客様をご紹介します。 近年需要が増えているBGA実装に対しアズビル太信では、X線検査機を導入しましたが、オープン不良など判断がつかないものが存在して、不具合流失等が大きな課題となっておりました。 そこで、JTAGテストを導入することで、BGA実装における未検査領域を大きく減らす事に成功しました。 【事例】 ■アズビル太信株式会社(長野県北部) ・工場やプラントの計測制御の生産拠点 ■課題:BGA実装では未検査領域拡大による不具合流失 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
LTE測定器の検査に、「JTAGバウンダリスキャンテスト」を導入したお客様をご紹介します。 当製品を導入することにより、X線検査では検出することができないハンダ不良やパターン不良を通電試験で確実に見つけることが可能になりました。 また、大規模なFPGAとDDRメモリを組み合わせたシステムは、ファンクションテストでは不良箇所を特定できず、製造ラインへのフィードバックが困難でしたが、当製品を採用して、製造品質を改善することができました。 【事例】 ■アンリツ株式会社 ・情報通信の分野で事業を展開し、計測ソリューションをグローバル に提供 ■課題 ・ファンクションテストでは不良箇所を特定できず、製造ラインへの フィードバックが困難 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
実装実験時に、「JTAGバウンダリスキャンテスト」を採用したお客様の事例をご紹介します。 インサーキットテスト(ICT)の検査率や直行率の低下に対しても、 当製品を導入することにより効果的に解決されました。 【事例】 ■コニカミノルタ電子株式会社(山梨県東部) ・複合機や、高度な医療機器などの高密度実装基板や樹脂成形品を生産 ■課題 ・インサーキット検査の検査率や直行率の低下 ・少量多品種製品における検査費用の向上 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
BGA搭載基板の故障解析のため、「JTAGバウンダリスキャンテスト」を採用したお客様をご紹介します。 当製品導入後は、BGAパッケージを多数搭載した高密度なプリント配線板に対しても、十分な品質確保ができます。 【事例】 ■サクサテクノ株式会社 生産技術部 ・ビジネスホンやICカードリーダ関連製品を中心とした製造 ■課題 ・BGAが多数搭載されテストピンを十分に立てることができない ・ファンクションテストでは不良原因を十分に特定できなかった ・X線検査ではBGAオープン故障が判断できない ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
自社開発製品の生産ラインに「JTAGバウンダリスキャンテスト」を採用したお客様の事例をご紹介します。 JTAG対応デバイスのパッケージがBGAの場合とDSP(CPU) + RAM + ROMの形態の基板は、基本的な配線チェックをJTAGテストで確認してからファームウェア担当者に提供。 これにより、基板や部品の実装不良による無駄な開発時間を費やすことがなく、開発効率を上げることができています。 【事例】 ■ティアック株式会社 音響機器事業部 ・音響機器の開発・販売 ■開発効率を上げるために試作品からJTAGテストを実施 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
BGA実装基板の不良箇所の特定を「JTAGバウンダリスキャンテスト」で実現したお客様の事例をご紹介します。 当製品を利用することで、BGAの実装不良が発生した箇所をピンレベルで特定することが出来るようになりました。 実装不良が発生しているピンに対して、顕微鏡による断面解析を実施した結果、ハンダ付け部分が高温下に長時間さらされた事が実装不良を発生させた原因だったことが判明。 また、ハンダレベラーの温度管理を見直すことにより基板の実装品質を改善する事が出来ました。 【事例】 ■株式会社沖電気コミュニケーションシステムズ ・メカトロニクスおよびエレクトロニクスの設計・生産受託サービス ■JTAGテストを採用してBGA実装の品質保証 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
当社は、1000種類を超えるPXIモジュールをUSB・LAN・Wi-Fiで制御でき、 スピーディな機能検証・機能テストを実現する 『センサ エミュレーション』をご提供しています。 センサの連続した変化をプログラマブル抵抗によって疑似的に再現。 最高0.03%、160種類を超える抵抗モジュールから構成が可能です。 ※ただいま、PXIシステムについて約80ページに渡って解説した 「活用ガイド」を製品カタログとあわせて進呈中です! (ダウンロードからご覧ください) 【製品特長】 ■疑似センサの変化はWindowsのアプリケーションから自在に制御可能 ■USBシャーシは、USB・LAN・Wi-FiでPCと接続可能 ■Windows PCから抵抗値の変更が可能 ■付属ドライバは、NI社、LabView、Keysight社、VEE、Microsoft社 Visual Studioなどの開発環境から自由に抵抗値を変更可能
「JTAGテスト」は試作開発から量産・メンテナンスまで活用できるツールです。 部品内蔵基板やBGA・TSV等の「見えない・触れない」部品のピンのはんだ不良を検出します。 【掲載企業(全7社)】 ■アズビル太信株式会社様…基板実装の検査工程でJTAGテストを導入 ■アンリツ株式会社様…LTE測定器の検査にJTAGテストを採用 ■株式会社沖電気コミュニケーションシステムズ様…BGA実装基板の不良箇所をJTAGテストで実現 ■コニカミノルタ電子株式会社様…JTAGテストと生産ラインのFA化を実現 ■サクサテクノ株式会社様…BGA搭載基板の不良箇所をピンレベルで特定して製造品質を向上 ■Spansion inc. 社様…高い安全性が要求される車載機器の検査をJTAGテストで実現 ■ティアック株式会社様…開発効率を上げるために試作品からJTAGテストを実施 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
フランスのオートモーティブ用テスト装置のシステムインテグレータが、 『PXI自動テストソリューション』を採用した事例をご紹介します。 当ソリューションは、HILSテストシステムを容易に構築でき、システム障害を シミュレーションして、ECUの設計評価、機能評価を実現します。 同社は、車載機器のテストを自動化することで、従来の大規模設備の小型化と コストダウンに成功しました。 【車載機器のテストを自動化】 ■エンジンコントロールユニット ■パワートレインコントロールモジュール ■エンジンコントロールモジュール ■ボディ制御ユニット ■バッテリーマネジメントユニット ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
『コンパクトHILS』は、モジュールを自由に組み合わせることが可能で、 設備の小型化とコスト削減を実現するPXIモジュールです。 【シミュレーション例】 ■センサーシミュレーション ・加速度計 ・測温抵抗体 ・熱電対 ・歪みゲージ ■障害シミュレーション ・CAN/LIN/FlexRayに障害挿入 ・ハーネス断線 ・ショート(通信信号、電源、GND) ■スイッチシミュレーション ・スイッチ ・劣化スイッチ ■バッテリーシミュレーション ・スタックして108セルまで対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
『センサシミュレーション』は、以下に対応した疑似センサーを用いることで 自動テストの設備を短期間で構築し、テストや検証時間を削減します。 ■温度、圧力(歪)、フォース、角度センサー プログラム抵抗・モジュール ■熱電対 熱電対シミュレーションモジュール ■ 位置センサー(LVDT, RVDT、レゾルバ) LVDT / RVDT /レゾルバシミュレーション・モジュール ■車軸センサー(スピード) 任意信号発生器・モジュール ■各種センサー(主に電流値4~20mAで値をセンスするセンサ) 電流ループ・シミュレーション・モジュール
『Arm Development Studio』は、製品開発に好適なアーキテクチャの調査から リアルタイム・アプリケーションの開発、エッジ・デバイス向けの コーディングまで、すべてのソフトウェアの開発プロジェクトに お使いいただけるツールです。 システム設計とソフトウェア開発を加速し、高品質の製品を市場に 早く投入でき、高いコストパフォーマンスを実現。 また、コードの移植性と再利用を効率化するために、CMSISという規格に 基づいています。 【特長】 ■早期に全てのArmプロセッサをサポート ■全ての開発段階で利用できる豊富なツール ■充実したプラットフォーム ■コードの移植性と再利用を効率化 ■ソフトウェア・インターフェスを標準化 ■エラーの無いソフウェアの開発を早く実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
『Arm Keil MDK』は、Arm Cortexベースのマイクロコントローラ向けの 完全なソフトウェア開発ソリューションです。 当ソリューションには、統合開発環境(IDE)とデバッガ、コンパイラ、 ソフトウェアパック、CMSISが含まれています。 これらのソフトウェアツールを使用すると、組込みソフトウェアプロジェクトの 開発を加速できます。 【特長】 ■Armベースのマイクロコントローラ(MCU)を最大限にサポート ■ロイヤリティフリーのソフトウェアビルディングブロックと リアルタイムOS(RTOS)を統合 ■Arm CPUの正確なシミュレーションモデルを提供(Cortex-Mのみ) ■ULINKファミリのデバッグ/トレースアダプタ、またはサードパーティ製 デバッグプローブとの連携 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
電気自動車(EV)用のバッテリー管理システム(BMS)のコントローラユニットやレスポンダユニットの機能検証の自動化を目的とした事例を紹介しております。 【バッテリ・シミュレータ・モジュール(電気自動車向け6セル)概要】 6セルのバッテリ・シミュレータ(型番:41-752A)は、電気自動車に使用されるバッテリスタックをエミュレートするのに理想的です。 高密度で高い絶縁耐圧バリアにより、多くのセルを直列に使用できるため、単一のPXIまたはLXIシャーシ内で、最大108セルのバッテリスタックをエミュレートすることができます。
電気推進パワートレイン・システムに不可欠なECUやその他のコントローラは、安全で効率的な車両運用にとって極めて重要です。包括的なセンサおよび電源スイッチングのエミュレーションとHILシミュレーションにより、設計エンジニアは必要なデータを得ることができます。適切なデータがあれば、エンジニアは実際の環境条件をシミュレートして制御アルゴリズムを最適化し、危険な外部障害条件(モータ巻線の溶融など)に対する非破壊エクスカーションテストを実施して、ユニットの応答を評価することができます。現在のEVには、電源スイッチングを必要とする低電流と高電流の両方のユニットをサポートする柔軟性を備えた、より高い電圧をサポートするテストソリューションを見つけることが不可欠です。電気推進システムと熱管理に関する専門知識を活用し、ピカリング社のPXI、LXIモジュールではパワートレイン・システムの進化に合わせて適切な手法を戦略化することができます。
ピカリングインターフェース社では、外部デバイスやインターフェースの操作に適した、デジタルI/Oモジュールを提供しています。 PXIのシステムに組込んでご使用いただくことはもちろん、LXIシャーシにより、LANからの制御も可能です。
テストを実施する際にテスト要件の設定のため、手動でスイッチの切り替えを行っていることがございます。 しかしながら、手動での切り替えの場合、ヒューマンエラー、再現性、時間の制約の問題がつきまといます。 また、マトリクススイッチを使用すると複数の計測ポイントを1台の計測機器で測定が可能です。 弊社の豊富なスイッチモジュールで自動化をご検討ください! ダウンロードいただけるPXIスイッチモジュールマップを確認いただくと、わかりやすく製品一覧をご確認いただけます。
・プログラマブル抵抗 ・抵抗センサーシミュレータ ・バッテリー シミュレータ ・スイッチ シミュレータ ・センサー / トランスデューサシミュレータ (歪ゲージ、熱電対、LVDT/RVDT/レゾルバ、アナログ出力/電流ループバック) ・故障挿入(フォルトインサーション)スイッチング ・シャーシ & リモートコントローラ ・増幅器 & 減衰器モジュール ・ウェーブフォーム ジェネレーション ・デジタル I/O&プロトタイピング ・USB ・パワーサプライ ・低電圧 / 電流ソース ・ケーブル&コネクタソリューション
海外の電子機器のハードウェア開発とソフトウェア開発の現場で、「手作業」による計測とテストを自動化するために、広く利用されているPXI & LXIを活用した、検証作業を「自動化」する方法をご紹介します。 オンデマンドで公開しておりますので、すぐにご視聴いただけます。
JTAGバウンダリスキャンは、BGA搭載基板の実装テストも簡単に実施できるテスト手法です。 様々なメリットがありますので、事例から、ヒントが得られると思っています。 【事例】 ・アズビル太信様:JTAGテストで未検査領域を減らしお客様へ安心をご提供! ・アンリツ様:高性能・高品質な計測を支えるJTAGテストテスト! ・沖電気コミュニケーションシステムズ様:JTAGテストによるBGAの実装保証を実現 ・コニカミノルタ電子:高密度実装における一貫した先進の検査体制を確立 ・サクサテクノ様:BGAの基板の不良箇所をピンレベルで特定して製造品質を向上 ・TEAC様:開発初期の信頼性を向上させてJTAGテスト ※事例紹介のご許可をいただいた当時の会社名となっております。
Arm Keil MDK v6は、市販のマイコン向けの開発ツールです。 Arm社純正のコンパイラを利用した開発を行う事ができます。 Keil MDK v6では、以前のツールであるKeil MDK v5に加えて、 Run-time FuSa RTS、無料で使用可能なミドルウェア、CI/CD開発に統合可能な、Visual Studio Code IDE(統合開発環境)、Command-line toolsの対応が含まれています。 Cortex-Mシリーズが実装されたマイクロコントローラ・デバイスに対するソフトウェア開発に対応しております。 ●Professional Edition Cortex-Mシリーズ、Cortex-R4、SecureCore、Arm7、Arm9に対応 ●Essential Edition Cortex-Mシリーズに対応 ●Community Edition Cortex-Mシリーズに対応(商用利用不可)
ピカリングインターフェース社の PXI ミリボルト熱電対シミュレータ モジュールは、32、24、16または8チャネルの電圧を正確に出力できる熱電対のシミュレーションに最適です。ECUのテストでセンサー・エミュレーションのためにも利用できます。 チャネルは、様々な種類の熱電対をカバーするため、3つの電圧範囲 (±20mVで分解能0.7μV、±50mVで分解能1.7μV、±100mVで分解能3.3μV) のいずれかで動作させることができます。 システムにコモンモードノイズが掛かった場合でも、正確な電圧を提供するために、リモート出力のリファレンス・センサに使われている2線式出力を使用します。また、各シミュレーション・チャネルは、センサの配線故障をシミュレートするために、オープン回路に設定することもできます。 精度向上のために低電圧源の各チャネルは、正確なキャリブレーションデータをモジュールに記録しています。また、モジュールのテストおよび検証の目的のためのキャリブレーション・マルチプレクサを内蔵しています。 テストシステムへの熱電対シミュレータ接続のため、専用ケーブルの提供も承ります。
モジュール41-670は、LVDT(線形可変差動変圧器)、RVDT(回転可変差動変圧器)、またはレゾルバのいずれかを使用してモーションや位置を測定するDUT(テスト対象デバイス)の実行に使用できる信号を生成するアクティブ回路を備えています。 41-670は、最大4つのバンクで利用可能で、各バンクは、共有励起信号を利用して、単一の5線式または6線式VDTまたはレゾルバ、またはデュアル4線式の出力をシミュレートし、モジュールは5または6線の最大4チャネル、または4線の8チャネルをシミュレートできます。 ピカリング社のPXIモジュールは、LANやUSBで接続できるLXIシャーシに搭載することができ、 パソコンからの制御も無料ソフトのGSFPや様々言語のAPIで簡単に制御ができます。
カスタムケーブル設計ツールはピカリング インターフェース社に接続するためのケーブルだけでなく、お客様が必要とする、様々な用途のケーブルの作成に利用可能です。 お客様が設計したケーブルの設計図や関連資料をPDFとしてダウンロードできますので、この設計資料をもとにお客様自身で、ケーブル組配業者を設定し、ケーブルの作成にも利用できます。もちろん弊社に発注して頂ければ、ピカリングインターフェース社で、組配したケーブルをお客様に納品させて頂きます。
プログラム抵抗とはPC等から、任意に抵抗値を変化させることができる回路です。 リレー(リード、EMR、SSR)と抵抗器を使用して回路が構成され、プログラム可能な抵抗を実現しております。 プログラムで変化可能な抵抗回路がモジュールに実装されております。 プログラム抵抗モジュールはパソコンでPCIやPXI、LANやUSBにて制御できるシャーシに搭載できます。 制御もパソコンで画面上から、簡単に制御できるソフトGSPF(General Soft Front Panel)を用意しており、 各言語(C/C++, LabWIEW, .NET, VB, MATLAB, Python等)のAPIもございます。
自動テストはハードウェア検証のコストの削減と品質向上させるための有効な手段です。 PXI、LXIモジュールによるテストは、産業機器、オートモーティブ、アビオニクス、医療、宇宙、通信機器など、さまざまな業界で高い信頼性とコストの削減で多くの実績があります。 ◎テスト時間の短縮:検査機器と被検査対象とのケーブルを繋ぎ変える手間を省き、テストに掛かる時間を短縮できます。 ◎正確な再現:人手を介さず何度でも同じテストを正確に繰り返し再現する事ができます。 ◎品質の向上:実際の環境で作り出す事が難しい過酷な条件や発生頻度が低い条件も再現できます。
大型金属造形や低コストな複合加工に。ロボットシステムの資料進呈
【イプロス初主催】AIを活用したリアル展示会!出展社募集中