クオルテックの製品ラインアップ

当社で承る『空冷パワーサイクル試験』について、ご紹介いたします。 小型ディスクリート半導体を対象とした空冷パワーサイクル試験、 IOL試験専用試験設備を設置し、試験を受託。サンプル20個分の 同時試験が可能です。試験サンプル数は40個まで拡張予定です。 当社では、パワーサイクル試験についての多くのノウハウを活用し、 お客様のご要望に沿った試験機構の構築及び新規機構の提案が可能です。 【試験概要(一部)】 ■試験サンプル：ディスクリート半導体 ■オン時間、オフ時間：2分から5分、オフ時はファンによる強制空冷 ■△Tj：25℃⇔125℃、または25℃⇔150℃ ■試験サイクル数：10,000サイクル(1サイクル6分、△Tj100℃の場合) ■試験電流：電流一定モード、または電流自動調整モード ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

当社では、電気・電子機器を電気回路により制御、機械的な 作動耐久試験を行っております。 製品サンプルへ電気的な制御信号を入力することにより、繰り返し動作を 実施。試験と並行して、入力信号、出力信号及び機械的動作した結果の 波形信号をモニタ・解析することで製品の作動耐久性の評価を行います。 また、必要に応じて制御回路の試作も実施もいたします。 【特長】 ■製品サンプルへ電気的な制御信号を入力することにより、 　繰り返し動作を実施 ■入力信号、出力信号及び機械的動作した結果の波形信号をモニタ・ 　解析することで製品の作動耐久性を評価 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

半導体業界では、デバイスの高性能化に伴い、微細構造の正確な観察が不可欠です。SEMやFE-SEMを用いた観察において、高品質な断面試料作製は、正確な解析の基盤となります。イオンビーム加工による試料作製は、加工によるダメージを最小限に抑え、高精度な観察を可能にします。当社『IB-19510CP』は、高速加工と仕上げ加工を組み合わせることで、高スループットと高品質な断面を実現し、半導体デバイスの微細構造観察を強力にサポートします。 【活用シーン】 ・半導体デバイスの断面観察 ・微細構造の解析 ・品質管理 【導入の効果】 ・高スループット化による分析時間の短縮 ・高品質な断面試料の作製による正確な解析 ・試料ダメージの軽減

当社では、はんだにおける、金属間化合物層の厚みと、その接合強度を 調査いたします。 はんだボールを用いて、はんだ付け時に形成される金属間化合物層の厚みと その時の接合強度を調査しました。 金属間化合物層厚とせん断強度は、リフロ回数増加による 大きな変化は認められませんでした。 また、150℃/250hr放置以降において金属間化合物層厚の増加傾向、 せん断強度の低下傾向が認められました。 【概要】 ■金属間化合物層厚とせん断強度は、リフロ回数増加による 　大きな変化は認められなかった ■150℃/250hr放置以降において金属間化合物層厚の増加傾向、 　せん断強度の低下傾向が認められた ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

当社では、ねじの締め付けで適切なトルク管理が必要な試験において、 各種トルク法を用いて締結評価を行います。 トルクは弱すぎるととねじが緩み、反対に強すぎるとねじが破損する 危険性があり、適切なトルク管理が必要。 トルクの管理にはトルクレンチが使われ、締結されているねじトルクの 測定方法として、増締めトルク法と、戻しトルク法があります。 【特長】 ■増締めトルク法 ・A点法：締結されているねじを締め付け方向に回転させ、静摩擦に打ち勝ち 　ねじが、回転し始める瞬間のトルク値を読み取る ・B点法：締結されているねじを締め付け方向に回転させ、ねじが回転し始めた 　瞬間の力を保持して、その状態からさらに力を加えた時に、ねじが再び回転する 　瞬間のトルク値を読み取る ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

当社では、3kHz以上の共振周波数測定に対応する場合は、 インパクトハンマを用いた共振周波数の測定を行っております。 評価サンプル、および、ハンマに加速度センサを取付。 ハンマで衝撃を印加時に測定機で測定した加速度データをPCに取り込み、 FFTで周波数分析を実施することにより、加速度ピークを検出する周波数の 確認が可能となります。 【当社での確認結果】 ■6.5k,10kHzと高周波のピークも検出できることを確認 ■振動試験機で正弦波 印加時と差がないピークが検出できることを確認 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

当社では、ひずみゲージを用いた弾性率測定を行っております。 ひずみとは、材料に力が加わった時の材料の伸縮時における 変形量のことです。ひずみを数値化して検出することができる ものとして、ひずみゲージがあります。 当社では信頼性試験機器を用い、引張(圧縮)試験を行う際に、 材料にひずみゲージを貼り付けて、ひずみ測定をすることが 可能です。 【特長】 ■ひずみゲージの測定結果から材料の弾性率、 　ポアソン比を算出可能 ■試験品に合わせたひずみゲージの選定が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

電気二重層キャパシタや二次電池の電解液として、水溶液は電気化学的特性と 安全性において、非水溶媒より遥かに優れています。しかしこれまで、 水系の電解液は電位窓(水の分解電位)が狭く、鉛蓄電池の2.0V程度が 上限でした。 そのため、水系蓄電デバイスは3V以上の電位窓をもつ非水溶媒系キャパシタに 太刀打ちできませんでした。クオルテックでは、過塩素酸塩を飽和まで水に 溶解させた飽和過塩素酸塩水溶液において、水溶液の電位窓が3V程度まで 広がることを見出しました。 上記より、高濃度の水系電解液はこれまでの水系電解液より高い印加電圧が 可能となる為、水系蓄電デバイスの発展に寄与することが期待されます。 ※事例の詳細内容は、関連リンクより閲覧いただけます。 　詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。