クオルテックの製品・サービス一覧

市販のIGBT(TO-247パッケージ)を用いショートタイム及びロングタイム パワーサイクル試験を実施した事例をご紹介いたします。 ショートタイムパワーサイクル試験ではワイヤー自体の破断が優先的に発生。 ロングタイムパワーサイクル試験ではダイボンド部の破壊(クラック)が 優先的に発生。また、ワイヤーのボンディング部にクラックが観察されました。 試験条件の違いにより破壊モードが異なるためパワーサイクル試験を実施する際は、 試験条件を慎重に決定する必要があるということがわかりました。 【事例概要】 ■試験内容 ・ショートタイムパワーサイクル試験 ・ロングタイムパワーサイクル試験 ■結果 ・ワイヤー自体の破断が優先的に発生(ショートタイム) ・ダイボンド部の破壊(クラック)が優先的に発生(ロングタイム) ・ワイヤーのボンディング部にクラック(ロングタイム) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

当社では、設計の上流から問題発生時の対策検討に至るまで製品の EMC性能確保のためのコンサルティングをおこなっております。 全体設計～次機種開発準備までを8段階でサポート。 信号のレベルなどより格段にレベルの低い雑音を測定するためには外界より 電磁遮蔽されたシールド室が必要となりますが、当社では2室設置しており、 主としてエミッション用とイミュニティ用とで使い分けております。 【保有設備】 ■シールドルーム(2基) ■雑音電流可視化システム ■ネットワークアナライザー ■小型電波暗室 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

当社で承る『空冷パワーサイクル試験』について、ご紹介いたします。 小型ディスクリート半導体を対象とした空冷パワーサイクル試験、 IOL試験専用試験設備を設置し、試験を受託。サンプル20個分の 同時試験が可能です。試験サンプル数は40個まで拡張予定です。 当社では、パワーサイクル試験についての多くのノウハウを活用し、 お客様のご要望に沿った試験機構の構築及び新規機構の提案が可能です。 【試験概要(一部)】 ■試験サンプル：ディスクリート半導体 ■オン時間、オフ時間：2分から5分、オフ時はファンによる強制空冷 ■△Tj：25℃⇔125℃、または25℃⇔150℃ ■試験サイクル数：10,000サイクル(1サイクル6分、△Tj100℃の場合) ■試験電流：電流一定モード、または電流自動調整モード ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。