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株式会社エフケー光学研究所

住所埼玉県新座市中野1-13-4
電話048-482-6910
  • 公式サイト
最終更新日:2019/06/10
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エフケー光学研究所の製品・サービス一覧

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1~7 件を表示 / 全 7 件

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【異物検査装置】二次電池等のセパレーターシート検査装置

検査に適した光(波長)に切替る波長選択型の検査装置!二次電池等のセパレーターフィルム検査に対応しました!

エフケー光学研究所の異物検査装置は、検査対象サンプルに合わせ検査に最適な光(波長)に切替る波長選択型の検査装置です。 どの波長においても均一に照射可能です。 検査撮像素子に対して迷光ノイズ成分を十分に抑えた光学設計となっています。 また、お客様のライン構成に最適化可能な豊富なラインナップを取り揃えています。 1.ロールtoロールやコンベアー等々で搬送されるフィルム状シートや基盤の検査を行います。 2.微細なピンホール欠陥、表面に付着した異物を検査致します。 3.フィルムコート後の物質によってはコート塗布の筋状の欠陥等々も検出可能です。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【異物検査装置】波長選択型の異物検査装置

検査対象サンプルに合わせ、検査に最適な光(波長)に切替る波長選択型の検査装置です。ライン構成に合わせた豊富なラインナップ!

エフケー光学研究所の異物検査装置は、検査対象サンプルに合わせ検査に最適な光(波長)に切替る波長選択型の検査装置です。 どの波長においても均一に照射可能です。 検査撮像素子に対して迷光ノイズ成分を十分に抑えた光学設計となっています。 また、お客様のライン構成に最適化可能な豊富なラインナップを取り揃えています。 1. 検査ステージ上に置かれたガラス基板を複数台のエリアセンサで検査するエリアタイプ。 2. 検査ステージ上に置かれたガラス基板を異物検査機を移動スキャンさせて検査するスキャンタイプ。 3. コンベアで搬送中のガラス基板表面の異物を検査するコンベアータイプ。 4. コンベアで搬送中のガラス基板の裏面の異物を検査する裏面異物検査タイプ。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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レンズ組立調整・検査用装置『MPro/DSC-E1UWシリーズ』

4K/8K対応レンズの量産化に!MTF測定値による組立調整・合否判定や、焦点距離検査など

レンズ設計、レーザー干渉計などの製造を手がける当社では、 レンズ生産現場向けの検査装置を取り扱っています。 組立調整・検査用MTF装置『MPro-RA』は、有限遠測定、逆投影、左右バランスを リアルタイムに確認でき、MTF測定値による組立調整および合否判定が可能。 4K/8Kレンズの普及に伴い、より高度化するレンズ生産現場の 効率向上・歩留まり改善に貢献します。 ★他にも、ズームレンズ用、小型レンズ用などをラインアップ。  取扱い製品のカタログを“PDFダウンロード”よりご覧いただけます。 【取扱い製品】 ■組立調整・検査用MTF装置『MPro-RA』 ■ズームレンズ用MTF検査置『MPro-ZM』 ■フランジバック焦点距離検査機『MPro-FBFL』 ■小型レンズ用MTF検査機『DSC-E1UW』 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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『異物検査装置』

検査不感帯領域を極限まで低減!輝度の小さな異物もとらえます。

当社では、お客様のライン構成に合わせお選びいただけるよう 数種類の『異物検査装置』をご用意しております。 当製品は、他社の異物検査機に比べ検査不感帯領域が大幅に少なく、検出が 広範囲です。 また、カメラ配置及び検査光源に特長があり、輝度の小さな異物も とらえる事が出来ます。 【特長】 ■他社の異物検査機に比べ検査不感帯領域が大幅に少なく検出範囲が広い ■輝度の小さな異物もとらえる事ができる ■多品種の基板に対しても光源波長を切替可能 ■検査不感帯領域を極限まで低減できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他検査機器・装置
  • 検査ロボット

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カメラモジュール組み立て装置『MD-60AA Series』

高精度な多軸フォーカス、傾き、調芯、接着までの機能を自動化!

『MD-60AA Series』は高精度な多軸フォーカス、傾き、調芯、接着までの機能を 自動化し、カメラモジュール補正を行える組み立て装置です。 FOV(実視野)最大180°までカバーするため、多種多様なアプリケーションの カメラモジュールの大量生産に適応します。 MTF計算結果に基づいて高精度に多軸調整を行い、高画質を得ることができ、 多様な用途のイメージモジュールの組立に対応します。 【特長】 ■FOV165°(MAX180°) ・FullFOV(実視野全域)でのアライメントにより最適な像品質が得られる ■像領域の調整 ・アジャスタブルコリメータによりテスト領域変更が簡単 ■異なる物体距離に適応 ・無限遠で調整 ・物体距離に合わせてBFLOffsetを調整 ■精度と効率 ・最適な像面を得るためにFOV全域で像面品質を測定してアライメントする ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他情報システム
  • その他検査機器・装置

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光学顕微鏡 透過型位相シフトレーザー干渉顕微鏡

光学顕微鏡 透過型位相シフトレーザー干渉顕微鏡

従来の光学顕微鏡の上位に位置する新しい形式の顕微鏡で屈折率分布や厚さの構造を高速かつ定量的に計測し、3次元的に可視化できます。 【特徴】 ○レーザー干渉法を応用して、サンプルの屈折率、高さを非接触で計測することができる。 ○高速…計測時間は数秒 ○高精度…位相差計測精度 ±(1/150) λ 、屈折率差計測精度 ±0.0001 、高さ計測精度 ±0.2μm ○空間分解能…光学顕微鏡と同等 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

  • 光学顕微鏡

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液晶基盤検査装置 G10検査装置

液晶基盤検査装置 G10検査装置

高精度なXYステージ上に吸着された液晶基盤上に付着した微細異物を検出する装置です。 【特徴】独自照明を考案し、不感帯を無くしノイズを極力除去しました。 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

  • 基板検査装置

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