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santec Holdings株式会社

設立1979年8月25日
資本金497856万
従業員数427名
住所愛知県小牧市大草年上坂5823
電話0568-79-3536
  • 特設サイト
  • 公式サイト
最終更新日:2026/09/28
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挿入損失測定器 挿入損失測定器
レーザ波長計 レーザ波長計
レーザコントローラ レーザコントローラ
波長変換器 波長変換器
アンプ アンプ
外部共振器レーザ 外部共振器レーザ
光ファイバ励振器 光ファイバ励振器
安定化光源 安定化光源
光アッテネータ 光アッテネータ
極性テスタ 極性テスタ
波長可変レーザ 波長可変レーザ
反射減衰量測定器 反射減衰量測定器
リターンロスメータ リターンロスメータ
偏波コントローラ 偏波コントローラ
偏光消光比メータ 偏光消光比メータ
光パワーメータ 光パワーメータ
光スイッチ 光スイッチ
ビジネスソリューション ビジネスソリューション
光学特性検査システム 光学特性検査システム
波長可変フィルタ 波長可変フィルタ
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広範な応用に最適なスタンダード空間光変調器:SLM-200

広範な応用に最適なスタンダード空間光変調器

SLM-200は、LCOS技術を基盤にした高性能な空間光変調器で、精密な光制御を必要とする幅広いアプリケーションに最適なスタンダードモデルです。WUXGA(1920×1200)の高解像度と、位相安定性0.001π以下(代表値)の高い再現性を誇り、10-bit(1024階調)の繊細な位相制御が可能です。波面補正、位相パターン制御、パルス整形、ビーム整形などの用途に活用されており、研究開発から産業応用まで、様々な分野で高精度な光制御を実現します。 機器組み込み専用のSLM-20モデルもご用意しております(小型・低コスト)。

  • その他光学部品

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SS-OCT用波長掃引光源『HSL-2100』

広い波長可変範囲!高い安定性・低コストを実現するSS-OCT用波長掃引光源

『HSL-2100』は、ポリゴンスキャナを用いた構成のSS-OCT用波長掃引光源です。 高い再現性と線形性で、データ取得にk-トリガーを必要としないため、 システム全体をシンプルに構成する事が可能です。 それにより高い安定性、低コストなどを実現します。 【特長】 ■1.31μmの波長帯 ■広い波長可変範囲(170nm@1.31μm帯) ■選択可能なスキャン速度(3kHz~50kHz) ■高い線形性・再現性 ■標準的なデータ収録カードで動作可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測・記録・測定器

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SS-OCT用光源『HSL-20』

100kHzの安定した高速スキャンが可能!MEMS技術を用いた光源

『HSL-20』は、MEMS技術を用いることで従来技術よりも小型で、 高速スキャンが可能な光源です。 当社の独自設計により最速で100kHzの安定した高速スキャンが可能。 また、当製品はシステムと同期するための「k-トリガー」と 「スタート-トリガー」を内蔵しております。 【特長】 ■1.31μmの波長帯 ■当社独自のMEMS技術 ■広帯域&長いコヒーレンス長 ■k-トリガー内蔵 ■一方向のスキャン ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測・記録・測定器

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OCT プローブ

ハンドヘルドタイプや顕微鏡タイプなど多数プローブをラインアップ!

当社では、SS-OCTシステムやOEM製品にカスタム・オプションとして 使用可能な『プローブ』を取扱っております。 手に持ちサンプルに押し当てて測定する「ハンドヘルドタイプ」をはじめ、 測定位置を確認しながら測定できる「顕微鏡タイプ」など、 様々なプローブをラインアップしています。 【特長】 ■ハンドヘルドタイプ ・手に持ちサンプルに押し当てて測定 ・アタッチメントにより測定物までの距離を変え、3D測定も対応可能 ■顕微鏡タイプ ・XYZステージにより高精度にサンプルの位置決めを行う ・測定位置を確認しながら測定できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測・記録・測定器

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SS-OCTシステム『IVS-1000/200』

研究用途・製品化の為の基礎検討など!様々な分野・応用で利用できるSS-OCTシステム

当カタログは、光技術のパイオニアを自負するsantecが取扱う製品を 掲載しております。 様々な分野・応用で利用可能なSS-OCTシステム『IVS-1000/200』をはじめ、 オールインワンポータブルSS-OCTシステム『IVS-300』など、様々な製品を ラインアップ。 当社の光源は、高速・高分解能・高感度なOCTを実現するだけでなく、 その高い信頼性で現在多くの診断器に採用されております。 【掲載製品(抜粋)】 ■SS-OCTシステム『IVS-1000/200』 ■SS-OCTシステム『IVS-300』 ■OCT プローブ ■SS-OCT用波長掃引光源『HSL-20』 ■SS-OCT用波長掃引光源『HSL-2100』 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 画像処理ソフト
  • その他計測・記録・測定器

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断層測定器 OCTシステム Inner Vision

可視域で透明でなくても生体や試料を採取・破壊することなく、内部構造をリアルタイムに可視化できる断層測定器!

santecのOCTシステム「Inner Vision」は研究用途、製品化の為の基礎検討など、様々な分野・応用でご利用頂ける装置です。OCTは近赤外線の後方散乱光の干渉を利用することで電子顕微鏡や実体顕微鏡とは異なり可視域で透明でなくても生体や試料を採取・破壊することなく、内部構造をリアルタイムに可視化する事が出来る、X線CT、MRI、超音波、共焦点顕微鏡に続く断層測定器として期待されております。santecのOCTは高感度で高速イメージングが可能なSwept Source OCT(OFDI = Optical Frequency Domain Imagingとも呼ばれます)の原理を用いているため、リアルタイムで高精細なイメージングが可能です。オプションでLabVIEWの操作ソフトも付属されますので、お客様ご自身でのカスタマイズも可能です。

  • 画像処理ソフト

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