santec Holdingsの製品ラインアップ

本製品群は、シリコンフォトニクス(SiPh)やフォトニック集積回路(PIC)などの開発における特性評価と不具合解析を、高速かつ高精度に実現する測定ソリューションです。 光電融合デバイス開発において重要なのは、「測定結果をいかに迅速に開発へフィードバックできるか」ということです。 各種光学特性を正確に評価し、課題を素早く特定することで、開発効率の向上に貢献します。 WDL特性やPDL特性だけでなく、OFDR技術を利用することによりデバイス内部の反射位置を測定し、損失発生箇所を特定することも可能です。 ※詳しくはPDFダウンロードより資料をご確認ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。

• 光学測定器

『OPS-1000』は、高速波長可変レーザーの技術を干渉計測に 応用した光学三次元測定器です。 最大10万点/秒の高速測定により製造工程での全数自動検査を 可能にします。同軸計測により複雑な形状でも容易に 測定できます。 最小受光感度100dB、ダイナミックレンジ70dBを実現。 三次元測定器では世界最高レベルの性能を 実現しております。 【特長】 ■超高感度 ・最小受光感度100dB、ダイナミックレンジ70dB ■高速測定 ・最大10万点/秒の高速測定により製造工程での全数自動検査が可能 ■同軸計測 ・同軸計測により複雑な形状でも容易に測定可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 三次元測定器

『TMS-2000』は、革新的なハードウェア設計と環境変化にも 高い耐性を有する超高精度ウエハ厚分布測定器です。 シリコン(～P＋＋)、SiC、サファイア、ガラス、LiNb3、SOIなどの 様々なウエハ材料のインライン検査を含め、高スループットと コンパクトなサイズを活かした幅広いアプリケーションへの 導入が可能です。 高速と高密度計測を両立したスパイラルスキャン方式を採用。 小型で配置場所を選ばない省スペース設計となっています。 【特長】 ■環境温度変化や振動に対する高い耐性に基づいた安定した厚さ計測 ■サブナノメートルのくり返し測定精度 ■自由度の高いスキャン方式でウエハ面内の厚さ分布を測定 ■片面からの光照射でジグなどに張り付けたままでも計測可能 ■異なる複数のウエハで差分解析が可能 ■SEMI規格に準拠した評価パラメータが測定可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• その他電子計測器

『IVS-2000-HR』は、高い分解能を持つ中心波長1310nm帯の SS-OCTシステムです。 IVSシリーズで最も高い分解能(生体内で5um以下)を有し、 より高い分解能、高い解像度での測定が可能。 高軸方向分解能は9um未満(空気中)で、A-lineレートは 20kHzとなっています。 【特長】 ■中心波長：1310nm ■A-lineレート：20kHz ■高軸方向分解能：9um未満(空気中) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• その他電子計測器

『IVS-2000-LC』は、深いイメージングレンジを持つ 中心波長1310nm帯のSS-OCTシステムです。 この波長帯は、散乱体でも光が深達しやすく、 散乱の強い対象物の測定に適しています。 深いイメージングレンジ(空気中で18mm以上)により、 高低差のある測定物も一括で3次元測定をする事が 可能です。 【特長】 ■中心波長：1310nm ■A-lineレート：50kHz ■高軸方向分解能：18um未満(空気中) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• その他電子計測器

『IVS-2000-HS』は、高速測定が可能な中心波長1310nm帯の SS-OCTシステムです。 高速(100kHz)測定により、インライン検査等での測定時間を 短縮できます。 高軸方向分解能は18um未満(空気中)を実現しており、 高精度な断層測定が可能です。 【特長】 ■中心波長：1310nm ■A-lineレート：100kHz ■高軸方向分解能：18um未満(空気中) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• その他電子計測器

『M400』は、有機ELディスプレイを搭載したスマートグラスです。 主なスペックとしてCPUは8 Core 2.52GHz Quaicomm XR1、RAMは6G、 フラッシュメモリーは64G、重量は68g(本体のみ)となっております。 Vuzix Viewを利用することで、スマートグラスの画面をパソコンで ミラーリングすることも可能です。 【セット内容】 ■本体 ■フレーム取付バッテリー ■レンズなしフレーム ■イヤーフック ■キャリングケース ■USB type CtoC ケーブル　など ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• その他

『Magic Leap 2』は、リアルとデジタルを融合させる法人向けARデバイスです。 当製品を使用しての共同作業はそのリアルな没入感によって 自然な距離感とお互いの存在感を生み出すことを可能にし、 生産性を向上させるだけでなく、経費削減にも貢献することが可能。 また、ARトレーニングは新しい従業員の獲得と育成、労働力の スキルアップと定着に使用されています。 【特長】 ■制限のない遠隔支援を実現 ■技術継承や人手不足を解決 ■大規模モデルも思いのまま ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• その他

『OCTシステム』は、近赤外線の後方散乱光の干渉を利用することで 電子顕微鏡や実体顕微鏡とは異なり可視域で透明でなくても生体や試料 を摂取・破壊することなく、内部構造をリアルタイムに可視化する事ができる リアルタイム非破壊光断層測定器です。 OCTシステムは、X線CT、MRI、超音波、共焦点顕微鏡に続く 最先端断層測定器で非接触・非破壊・非侵襲でかつ高速に 測定することが出来ます。 また、3次元撮影も可能です。 【特長】 ■非接触・非破壊・非侵襲 ■高速 ■高文機能 ■広範囲 ■2D・3D断面計測 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他 計測・測定機器

WSS-2000は任意の光スペクトルをプログラム生成可能な LCOSベースの光フィルタです。santec独自のLCOS技術により 柔軟性に富んだ帯域可変、減衰制御、スイッチング動作を実現。さらに位相コントロール機能にも対応しております。WSS-2000は次世代光ネットワークの評価及び検証に適しており、高速信号用の光イコライザ、DWDM（光波長 多重通信）やOFDM（直交周波数分割多重方式）チャネル選択フィルタ、WSSエミュレータとして、各種測定にご利用いただけます。また、評価用デモ機をご用意しています。

• その他光学部品

『TSL-570』は、性能・品質を向上させた第7世代スタンダードモデルの 波長可変光源です。 レーザ共振器および制御回路を刷新することで、従来機より高速化、高性能化、高品質化を実現しました。これにより、光通信分野やフォトニクスサイエンスで利用されている光学部品の特性評価だけでなく、フォトニック集積回路テスト、量子フォトニクス、分光法、センサー用など様々なアプリケーションで理想的なツールとなっています。 ■特長 ・高速掃引：200nm/sスイープ ・高波長精度：±2pm (Type P) ・高波長分解能：0.1pm ・高い信号対雑音比：90dB/0.1nm

• その他照明機器

波長可変光源 (TSLシリーズ)とマルチポートパワーメータ(MPMシリーズ)、偏光制御ユニット（PCU-110）および専用ソフトウェアを組み合わせたSwept Test Systemは、光学デバイスの研究開発や生産現場の両場面で最適な評価ツールとなっております。 波長可変光源からの出力パワーをリアルタイムにリファレンスしDUTを透過した光パワーを同時に取得することで、高精度にIL/WDL/PDLが測定可能です。本システムは、ミュラーマトリックス法を使用してPDLを算出しています。 ■特長 ・リスケーリングアルゴリズム (高分解能 0.1 pm) ・リアルタイムパワーリファレンス (再現性 0.02 dB) ・光源内蔵の高精度波長モニタ (絶対波長精度 3 pm)

• その他計測・記録・測定器

本製品は、santec波長可変レーザ （TSLシリーズ）のアドオンモジュールとして機能し、フォトニクスデバイス評価に要求される3つの機能（反射点計測, 波長依存損失計測, 近接センシング）を提供する分析装置です。 ■特徴 反射点計測：高い分解能 5 μm 波長依存損失計測：広いダイナミックレンジ 80 dB 近接センシング：ファイバプローブとデバイス間の距離測定

• 光学測定器

本製品ははレーザの発振周波数を安定化するためのレーザサーボコントローラで、弊社波長可変レーザ（TSLシリーズ）の発振周波数を、ユーザ所有の周波数基準器にロックさせることができます。TSLシリーズに最適化された設計となっていることから複雑な調整をすることなく、弊社提供のGUIにより、容易にTSLの発信周波数を安定化できます。ガス吸収セル、Fabry Perot（FP）共振器など、さまざまな周波数基準器に対応しており、また、Pound-Drever-Hall （PDH）法、サイドフリンジロック法などの各種のフィードバック制御においてご使用いただけます。

• サーボ

SLM-210は、光学応答速度 10ms以下の、高速な光制御を実現したLCOS型空間光変調器です。WUXGA(1920×1200)の高解像度と、位相安定性0.002π以下(代表値)の高い再現性を誇り、10-bit(1024階調)による繊細な位相制御が可能です。これにより、ホログラフィ再生、波面補正、光ビーム整形および操作、バイオセンシング、量子コンピューティングなどのアプリケーションに活用されています。特に、光学応答速度が10ms以下であるため、滑らかかつ迅速なリアルタイムホログラフィ再生が可能です。

• その他光学部品

SLM-300は、最大200Wクラスの高出力レーザーに対応したLCOS型空間光変調器です。WUXGA(1920×1200)の高解像度と、位相安定性0.003π以下(代表値)の高い再現性を誇り、10-bit(1024階調)による繊細な位相制御が可能です。水冷式冷却により長時間でも安定した動作を実現します。対応波長は532 nm、800 nm、1064 nmで、レーザー加工、3Dプリンタ、IC用レーザートリミングに加え、金属加工やバイオ・光学研究など、幅広い高出力用途に対応します。 機器組み込み専用のSLM-30モデルもご用意しております（小型・低コスト）。

• その他光学部品

SLM-250は、液晶および光学薄膜構造をUV波長域に合わせて最適化した空間光変調器です。WUXGA(1920×1200)の高解像度と、位相安定性0.003π以下(代表値)の高い再現性を誇り、10-bit(1024階調)の繊細な位相制御が可能です。フォトリソグラフィー、波面補正、光ビーム整形および操作、バイオセンシングなど、UV対応が求められる幅広い応用において、高精度な光制御を実現します。

• その他光学部品

SLM-200は、LCOS技術を基盤にした高性能な空間光変調器で、精密な光制御を必要とする幅広いアプリケーションに最適なスタンダードモデルです。WUXGA(1920×1200)の高解像度と、位相安定性0.001π以下(代表値)の高い再現性を誇り、10-bit(1024階調)の繊細な位相制御が可能です。波面補正、位相パターン制御、パルス整形、ビーム整形などの用途に活用されており、研究開発から産業応用まで、様々な分野で高精度な光制御を実現します。 機器組み込み専用のSLM-20モデルもご用意しております（小型・低コスト）。

• その他光学部品

『HSL-2100』は、ポリゴンスキャナを用いた構成のSS-OCT用波長掃引光源です。 高い再現性と線形性で、データ取得にk-トリガーを必要としないため、 システム全体をシンプルに構成する事が可能です。 それにより高い安定性、低コストなどを実現します。 【特長】 ■1.31μmの波長帯 ■広い波長可変範囲（170nm@1.31μm帯） ■選択可能なスキャン速度（3kHz～50kHz） ■高い線形性・再現性 ■標準的なデータ収録カードで動作可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器

『HSL-20』は、MEMS技術を用いることで従来技術よりも小型で、 高速スキャンが可能な光源です。 当社の独自設計により最速で100kHzの安定した高速スキャンが可能。 また、当製品はシステムと同期するための「k-トリガー」と 「スタート-トリガー」を内蔵しております。 【特長】 ■1.31μmの波長帯 ■当社独自のMEMS技術 ■広帯域＆長いコヒーレンス長 ■k-トリガー内蔵 ■一方向のスキャン ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器

当社では、SS-OCTシステムやOEM製品にカスタム・オプションとして 使用可能な『プローブ』を取扱っております。 手に持ちサンプルに押し当てて測定する「ハンドヘルドタイプ」をはじめ、 測定位置を確認しながら測定できる「顕微鏡タイプ」など、 様々なプローブをラインアップしています。 【特長】 ■ハンドヘルドタイプ ・手に持ちサンプルに押し当てて測定 ・アタッチメントにより測定物までの距離を変え、3D測定も対応可能 ■顕微鏡タイプ ・XYZステージにより高精度にサンプルの位置決めを行う ・測定位置を確認しながら測定できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器

当カタログは、光技術のパイオニアを自負するsantecが取扱う製品を 掲載しております。 様々な分野・応用で利用可能なSS-OCTシステム『IVS-1000/200』をはじめ、 オールインワンポータブルSS-OCTシステム『IVS-300』など、様々な製品を ラインアップ。 当社の光源は、高速・高分解能・高感度なOCTを実現するだけでなく、 その高い信頼性で現在多くの診断器に採用されております。 【掲載製品(抜粋)】 ■SS-OCTシステム『IVS-1000/200』 ■SS-OCTシステム『IVS-300』 ■OCT プローブ ■SS-OCT用波長掃引光源『HSL-20』 ■SS-OCT用波長掃引光源『HSL-2100』 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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• その他計測・記録・測定器

santecのOCTシステム「Inner Vision」は研究用途、製品化の為の基礎検討など、様々な分野・応用でご利用頂ける装置です。OCTは近赤外線の後方散乱光の干渉を利用することで電子顕微鏡や実体顕微鏡とは異なり可視域で透明でなくても生体や試料を採取・破壊することなく、内部構造をリアルタイムに可視化する事が出来る、X線CT、MRI、超音波、共焦点顕微鏡に続く断層測定器として期待されております。santecのOCTは高感度で高速イメージングが可能なSwept Source OCT（OFDI = Optical Frequency Domain Imagingとも呼ばれます）の原理を用いているため、リアルタイムで高精細なイメージングが可能です。オプションでLabVIEWの操作ソフトも付属されますので、お客様ご自身でのカスタマイズも可能です。

• 画像処理ソフト