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光学特性検査システム 『Swept Test System』

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最終更新日:2026年02月17日

santec Holdings株式会社
santec Holdings株式会社
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高速かつ高精度・高分解能で IL/WDL/PDL を評価可能!

波長可変光源 (TSLシリーズ)とマルチポートパワーメータ(MPMシリーズ)、偏光制御ユニット(PCU-110)および専用ソフトウェアを組み合わせたSwept Test Systemは、光学デバイスの研究開発や生産現場の両場面で最適な評価ツールとなっております。 波長可変光源からの出力パワーをリアルタイムにリファレンスしDUTを透過した光パワーを同時に取得することで、高精度にIL/WDL/PDLが測定可能です。本システムは、ミュラーマトリックス法を使用してPDLを算出しています。 ■特長 ・リスケーリングアルゴリズム (高分解能 0.1 pm) ・リアルタイムパワーリファレンス (再現性 0.02 dB) ・光源内蔵の高精度波長モニタ (絶対波長精度 3 pm)

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Swept

光学特性検査システム 『Swept Test System』

Swept Test System.png
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基本情報

■特性 ・リアルタイムパワーリファレンス ・高精度にIL/WDL / PDL特性測定可能   - 高いIL再現性<± 0.02 dB   - 高いPDL再現性± 0.01 dB ・スケーリングアルゴリズム   - 高い波長分解能と波長精度で測定可能   - 測定時間の短縮が可能 ・マルチチャンネル測定が可能 ・グラフィカルユーザーインターフェースとDLLのサポート(Visual Studio)   - 測定パラメーターを簡単に設定可能   - データ分析 ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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用途/実績例

■用途 ・光部品、モジュール評価   - 波長選択スイッチ(WSS)、AWG、波長ブロッカー   - フィルタ、インターリーバ、FBG、カプラ、アイソレータ、光スイッチ   - DWDM 部品 ・フォトニックデバイス、マイクロキャビティ共振器評価 ・分光計測

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santecは光産業において40年以上にわたり、お客様からの品質に対する厳格な要求にお応えしながら、光コンポーネント、レーザー製品及び光測定器を製造してまいりました。 また、常に革新を求め、お客様からの御要望にお応えすることを通じて、santecは、数々の新しい光関連製品を世に送りだしてまいりました。私共の経営理念である光の理想郷「OPTOPIA」の創造への歩みは、製品のコンセプトから商用化までのタイムスケジュールを最小限にする歩みでもあります。

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