フローティング・広帯域・多チャネル・同時測定、超高電圧のフローティング測定に対応する、アイソレーション・システムです。　省エネ技術の要となるパワーエレクトロニクス計測・解析システムを提供いたします。 ●光ファイバによるアイソレーションで高電圧測定部と操作部を分離 ●広周波数帯域 DC〜500MHｚ ●多チャネル同時測定が可能（2ch〜24ch）

○６チャネル出力（インバータのゲート制御に最適） ○３相２レベルインバータのゲート制御可能 ○発振中に周波数などを継ぎ目なく変更 ○チャネル毎のパラメータを同時変更 ○デバイスの同時ＯＮを防止するGAP時間制御 ◆パワーデバイスのスイッチング試験◆ パワーデバイスの検査に使用されるスイッチング試験では連続出力する２個のパルスの遅延時間や周期を制御します。 ディレイパターンジェネレータの６チャネル独立パルス制御（BASICモード）を使用しれば、スイッチング試験に必要な信号を簡単に発生させることができます。 ◆インバータのゲート制御◆ パワーデバイスやモータには、インバータ（デバイス搭載）やモータ負荷を組み合わせたシステムでの評価試験があります。 ３相２レベル制御（INVERTERモード）と外部変調機能（オプション）を使用すれば、試験用のＰＷＭ信号源として最適です。 ※詳細は資料請求またはダウンロードからお問い合わせください。

【用途】 IGBT等のパワーデバイスを使用したモータードライバ、スイッチング電源、 インバータ、コンバータ等の信号測定 【仕様】 ■減衰比（切替式）→ 50:1 ／ 100:1 ／ 250:1 ／ 500:1 ■周波数帯域(-3dB) 　入力電圧 50V → 300MHz ／ 300MHz ／ 400MHz ／ 400MHz 　　　　　 500V→ 　-　　／　 -　　／ 300MHz ／ 300MHz 　　　　　1000V→ 　-　　／　 -　　／ 　-　 ／ 300MHz ■立上り時間(10%～90%) 　入力電圧 50V → 1.2ns ／ 1.2ns ／ 875ps ／ 875ps 　　　　　 500V→ 　-　 ／　 -　／ 1.2ns ／ 1.2ns 　　　　　1000V→ 　-　 ／ 　-　 ／　 -　／ 1.2ns ■ティピカルノイズ (rms) → 55mV ／ 55mV ／ 75mV ／ 75mV ■伝播遅延時間 (Typ.)　　→10ns ※詳しくはカタログダウンロード、もしくはお問い合わせください。

【仕様】 ■SE-6000 ・チャンネル数：4 ・DAC：14bit 100MS/s ・出力電圧：±1V（50Ω負荷）、±2V（1MΩ負荷） 　※DSOモードの場合：±800mV（50Ω負荷）、±1.6V（1MΩ負荷）　・画面表示：4.3"カラーLCD 　バックライト：High/low 選択 ・入力：2連LCコネクタ×4 ・出力：BNC×4 ■SE-6010 ・チャンネル数：1 ・周波数帯域：30MHz（ユニット入力～アンプ出力） ・入力インピーダンス：1MΩ//20pF ・入力カップリング：DC、AC、GND ・入力レンジ 　出力レンジ±1V（50Ω）、±2V（1MΩ）の場合 　→±50mV、±100mV、±200mV、±500mV、±1V、±2V、±5V、±10V、±20V、±50V　　　 　出力レンジ±0.8V（50Ω）、±1.6V（1MΩ）の場合 　→±40mV、±80mV、±200mV、±400mV、±800mV、±2V、±4V、±8V、±20V、±40V ●詳しくはカタログダウンロード、もしくはお問い合わせください。