AFMのメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
イプロスは、 製造業 BtoB における情報を集めた国内最大級の技術データベースサイトです。

AFM(スキャナー) - メーカー・企業と業務用製品 | イプロスものづくり

AFMの製品一覧

1~2 件を表示 / 全 2 件

表示件数

Tabletop AFM

Electromagnetic scanner type (patented) allows for damage-free and non-destructive measurements at a low cost. It has functions equivalent to expensive AFM.

Even beginners can achieve accurate measurements! You can measure non-destructively just by setting the sample! There is a lineup ranging from handheld types to fully automatic measurements with cassettes. 【Product Features】 - Ultra-compact with a depth and width of 15cm, easy to carry anywhere - Evaluation and demo units available for loan. Rich measurement inspection track record - Achieves low cost while having functions comparable to expensive AFMs - By using an electromagnetic scanner (patented) for scanning, there is no need to move the substrate - Does not use piezo elements commonly used in AFMs, so there is no nonlinear creep or aging changes - Can measure without damage and non-destructively - AFM carbon nano-probes (high resolution, long lifespan) 【Software Applications】 - Fine line width measurement - Surface shape measurement of silicon and compound wafers - Surface inspection of quartz glass - Mask pattern measurement - Surface inspection and evaluation after polishing and CMP - Thin film step measurement, continuous and discontinuous measurement during film formation - Observation of magnetic fields in hard disks - Film surface inspection - High-precision surface analysis of metal molds - Evaluation of optical components and precision parts

  • Semiconductor inspection/test equipment
  • AFM

ブックマークに追加いたしました

ブックマーク一覧

ブックマークを削除いたしました

ブックマーク一覧

これ以上ブックマークできません

会員登録すると、ブックマークできる件数が増えて、ラベルをつけて整理することもできます

無料会員登録

Ultra-fast! Highly versatile and expandable AFM/SPM Cypher VRS

"Not just high speed!" A high-speed AFM/SPM (Atomic Force Microscope) with excellent versatility and expandability.

The Cypher VRS atomic force microscope is the industry's first "AFM/SPM that combines ultra-fast imaging with a variety of property analysis and environmental control functions." While incorporating the high resolution, versatility, and ease of use that characterize Asylum Research's Cypher AFM/SPM, it can measure dynamic processes at the nanoscale at ultra-fast speeds.

  • Microscope
  • AFM

ブックマークに追加いたしました

ブックマーク一覧

ブックマークを削除いたしました

ブックマーク一覧

これ以上ブックマークできません

会員登録すると、ブックマークできる件数が増えて、ラベルをつけて整理することもできます

無料会員登録