ジーフロイデの製品・サービス一覧

現在映像画質は４Ｋから８Kに移り変わりつつあり、光学系の性能は益々厳しくなるばかりです。この様な技術的背景では面形状や偏芯精度に加え、厳密な中心厚が規定されています。 しかしながらレンズの中心厚測定はかなり難しい測定対象です。理由は測定個所がレンズ上の『１点』でしか無く、明確なその位置の特定が困難だからです。 弊社ではこれらの課題解決に向け、５年前に非接触式のレンズ中心厚測定機を開発致しました。 ※詳細は資料請求して頂くかダウンロードからPDFデータをご覧下さい

• その他計測・記録・測定器

光学理論では光軸の軸ズレとコマ収差は比例しています。 本装置ではここに着眼した光軸アライメント用の干渉計です。予め光学設計上の許容コマ収差値を装置に代入し、『合格規格円』を表示しアライメントに依って結像をその円内に移動させる事で調整作業が完了します。 光学メーカーの製造現場のアイデアから生まれた新発想の干渉計です。 データ取得はキャリアフリンジ法なので防振台も不要です。どうぞ活用してみて下さい！

• その他検査機器・装置

『MFT(MicroFinish Topographer)』は、シンプルでコストパフォーマンスに 優れた小口径から大口径、そして特大口径のサンプルの表面粗さ測定装置です。 高精度なフェイズ測定干渉計はApre社のソフトウェアREVEALにより 制御駆動され、直観的かつ容易な作業で様々な解析環境をご提供致します。 【特長】 ■シンプルな特大口径光学パーツ測定 ■小口径パーツの測定を素早く ■仕上がりの情報を迅速にフィードバック ■迅速な非接触粗さ測定 ■簡単でかつ大口径対象を直接測定 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせください。

• その他計測・記録・測定器