サンプル表面の細かい面粗さが測れる！コストパフォーマンスに優れております
『MFT(MicroFinish Topographer)』は、シンプルでコストパフォーマンスに 優れた小口径から大口径、そして特大口径のサンプルの表面粗さ測定装置です。 高精度なフェイズ測定干渉計はApre社のソフトウェアREVEALにより 制御駆動され、直観的かつ容易な作業で様々な解析環境をご提供致します。 【特長】 ■シンプルな特大口径光学パーツ測定 ■小口径パーツの測定を素早く ■仕上がりの情報を迅速にフィードバック ■迅速な非接触粗さ測定 ■簡単でかつ大口径対象を直接測定 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせください。
この製品へのお問い合わせ
基本情報
【その他の特長】 ■ダイヤモンドターニングマシンに搭載可能 ■安価でシンプル、フレキシブルな測定プラットフォーム ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
用途／実績例
※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせください。
カタログ（1）
カタログをまとめてダウンロード
企業情報
ジーフロイデ株式会社は測定機の開発と販売を行っております。 市場に無ければ新たに企画し製造します。どうぞ皆様のご要望をお聞かせ下さい。よろしくお願いいたします。
