【2025年7月9日(水)～11日(金)】「第27回インターフェックスWeek東京」出展のご案内

洗浄バリデーション、製薬用水の汚染管理戦略（CCS）、製薬用水のリアルタイムテストなど…様々なお悩み、ご相談ください！

＜Sievers TOC計 M9＞ ・迅速・簡単・正確なTOC測定 ・キャリアガスが不要 TOCは医薬品・化粧品・医療機器の洗浄バリデーションのための効果的なツールです。 洗浄バリデーションにSievers TOC計を使用することで、品質向上・リスク低減・効率的な運用を実現できます。 また、アットライン/オンライン洗浄バリデーションにも対応しています。 ～その他、Sieversの製品ラインナップ～ ＜オンラインTOC計 M500＞ ・製薬用水のリアルタイムテスト ・JP<一般試験方法 2.59 有機体炭素試験法>に適合 ＜エンドトキシン計 Eclipse＞ ・独自のマイクロフルイディクスを利用した半自動測定 ・ピペット操作数＆エラー発生率＆ライセート試薬使用量を大幅削減 ＜バイオバーデン迅速分析装置 Soleil＞ ・迅速微生物分析による洗浄バリデーション ・独自のハイスループットフローサイトメトリー法を採用

• 水質検査
• 製薬用水製造装置・設備

サンプリングの手間が省け、リアルタイム分析でOOSやOOTを検出して是正処置を行い、リスク・工数・運用コストを削減するRTRT

製薬業界では無駄のないプロセスと継続的な改善が求められます。 効率的なプロセスにより、必要な時に安全で高品質の医薬品を提供できます。　 そこで製薬用水のリアルタイムテストを採用することで、 品質を担保しながら製造プロセスを効率化が可能です。　 セントラル科学では、 Sievers TOC計によるTOC＆導電率のリアルタイムテストにより、 製薬用水設備の監視を最適化し、cGMPプロセスに対するより 優れたプロセス制御・生産性向上・リスク管理を実現。 【特長】 ■従来のラボ分析に関連するコスト・リソース・汚染・ラボエラー・データ遅延を削減 ■OOS＆OOTをリアルタイムで検出して処置 ■継続的制御とシステムバリデーション ■トレンドデータに基づいたアラートレベル・アクションレベルの設定 PDFデータでは、TOCリアルタイムテストに関する技術資料や 「オンラインTOC計 Sievers M500」や「製薬用水/洗浄バリデーション用　Sievers M9ラボ型」 をご覧いただけます。　 ※詳細はカタログをダウンロード頂くか直接お問い合わせ下さい。

• その他 水質分析
• 水質検査
• 製薬用水製造装置・設備

バイオバーデン試験を45分にしませんか？

バイオバーデン試験は、医薬品の安全性、品質、コンプライアンスを確保するための重要な品質管理プロセスの1つです。培養法では微生物培養が必要なため、結果判定までに1週間程度を要します。Sieversが開発したバイオバーデン迅速分析装置Soleilは、45分以内で100mL中10個未満の生菌数を超高純度に検出できます。培養法とも相関性が強く、医薬品の安全性と製造プロセスの効率性を高め、リスクを最小限に抑えることが可能になりました。 2023 年に PIC/S GMPAnnex1 が施行され、汚染管理手段として迅速法が採用され始めています。製薬用水/洗浄バリデーション/工程サンプル/原材料/最終製品の確認などにお役立ちします。

• 分析機器・装置

エンドトキシン測定を半自動化！試験エラー発生率を大幅に削減します！

Sieversが開発したエンドトキシン計 Eclipseは、だれでも簡単にエンドトキシン測定が行えることを目的にしています。 これまでのエンドトキシン測定は、分注操作におけるピペッティング操作などに時間や手間がかかることやヒューマンエラーの発生など課題を感じているユーザー様が多くいらっしゃいました。 Eclipseは、専用のマイクロプレートとマイクロ流体技術を開発しエンドトキシン測定の半自動化を実現した装置です。 21サンプルの測定に対し、ピペッティング操作は30回未満、標準品は充填済みのため試験の準備時間と手間を大幅に削減します。また、ライセート試薬の使用量は1mLと従来より90％削減できるため、カブトガニの生態保護にもお役立ちします。 IQ/OQも数日で完了しますので、ご安心ください。

• 試験機器・装置

日本薬局方 一般試験法 ＜2.59 有機体炭素試験法＞に適合する「ガス透過膜導電率測定技術」を採用したオンラインTOC計

オンラインTOC計 Sievers M500は、Sieversの長年の無試薬型ガス透過膜式導電率測定技術を発展させた、3世代目のオンラインTOC計です。従来の“精度” “再現性” ”安定性”を継承しつつ、迅速測定とデータ管理機能の強化を実現しました。 【日本薬局方に適合する独自技術） ・日本薬局方 一般試験法 ＜2.59 有機体炭素試験法＞に適合 ・各国薬局方に適合（USP <643>、EP 2.2.44） ・二酸化炭素を分離して測定：ガス透過膜式導電率測定方式 ・フタル酸水素カリウムを用いた校正 ・ドデシルベンゼンスルホン酸ナトリウムを90％以上の回収率で検出 【高性能＆高機能】 ・３分間隔のリアルタイム測定 ・柔軟なサンプリング機能 ・豊富なシステムプロトコル ・21 CFR Part 11に基づいたデータインテグリティ対応

• 分析機器・装置

迅速 / 簡単 / 正確なTOC測定

Sievers M9は、独自のガス透過膜式導電率測定方式と幅広い測定範囲（0.03 ppb〜50 ppm）により、さまざまなアプリケーションに対応できます Sievers M9の特長： ・キャリアガス不要 ・超低濃度域の安定性 ・12か月の校正安定性 ・用途に応じて選べる3モデル（ラボ型/ポータブル型/オンライン型） ・21 CFR Part11に基づいたデータインテグリティの要件に対応（オプション） ・サンプル導電率測定機能により、TOCと導電率（USP<645> ステージ1）を同時に測定できます（オプション） ・オートサンプラーにより、最大63本（40mL）のサンプルを自動で分析できます（オプション）

• 分析機器・装置

貴社におかれましては益々ご盛栄のこととお慶び申し上げます。 弊社は以下の展示会に出展し、 新製品【 ピロー包装全数気密検査機 MSQ-2003 】を含む、 多数の製品をご紹介させていただきます。 ご多忙中のところ大変恐縮でございますが、 この機会に是非ともご来場いただきたくご案内申し上げます。 【 展示会名 】 JAPAN PACK 2025 日本包装産業展 https://www.japanpack.jp/ 【 会 期 】 2025年10月7日(火)～10日(金) ※4日間 10:00 ～ 17:00 【 会場／小間番号 】 東京ビッグサイト ／ 東8ホール 8-505

株式会社松井製作所(本社：大阪市)は、製造業向けの最新動向を紹介するオンラインイベント「ものづくり自動化・DX Webinar Week 2025」を、2025年9月10日(水)から12日(金)までの4日間にわたり開催いたします。 国内の製造業では人材不足が一層深刻化し、効率化や省人化に向けた取り組みが急務となっています。さらに、3Dプリンター(積層造形技術)をはじめとする新たな製造技術や、DX(デジタルトランスフォーメーション)、AI活用などへの対応も求められています。 製造現場の課題解決に直結する最新の事例やソリューションを紹介します。 ■開催概要 名称：ものづくり自動化・DX Webinar Week 2025 会期：2025年9月10日(水)～12日(金) 形式：オンライン配信(Zoomなどを使用、各セッション25分) 視聴方法：無料(事前申込制) 視聴登録時には、 [ 無料招待コード ] V9152640-MW　をご使用ください。 申込サイト： https://webinarweek.net/ww/202509DX/

この度、弊社は『JAPAN PACK 2025』に出展いたします。 弊社ブースでは「小ロット・試作/研究開発 充填ユニットを作りたい」「毎日の洗浄を効率化したい」など、 作業現場での課題解決のヒントになるような、ご提案をいたします。 今回は、ワンショットごとの吐出量をモニタリングして、正確性を数値で確認できるデモ実演を、プランジャーポンプ「ハイバーポンプBシリーズ」で実施いたします。 その正確な吐出精度を、是非ブースでご体感ください。 ・医薬品業界向けの「駆動部に消耗品を使用しないシールレスポンプ」 ・高粘度材料の液ダレを解消する「シャットオフノズル」 ・小ロット生産に最適な卓上ロボットによる「小瓶充填ユニット」 その他、“洗浄性”と“表面の平滑性” を考慮した設計による、衛生的なカスタムメイドタンクを多数展示いたします。 デッドスペースを最小限に抑えた構造を、是非ともご覧ください。 また、摺動部の摩耗片の混入や軸部の漏れを防ぐ「マグネット式攪拌ユニット」のデモ実演なども実施いたします。 皆さまのご来場を、心よりお待ちしております。

有機化合物の構造を決定するためには、その化合物の分子量を知ることは極めて重要であり、質量分析法は、IRやNMRと並んで有機化合物の構造解析に必要不可欠な手法です。ただし、質量分析を行うためには、化合物をイオン化しなければならず、その化合物の性質や分子量によって適切なイオン化法を選択する必要があります。本講座では、質量分析の原理、装置構成や各種イオン化法について、工業材料を分析する際のイオン化法選択の方法や注意点を含めて解説します。さらに、マススペクトルの解析法についても基礎的な演習を交えながら講義します。

高性能な半導体デバイスを作製するためには、デバイス形成に用いるそれぞれの材料の電気特性および物性を理解し、制御する必要がある。半導体デバイスの微細化と複雑化が極限まで進んでも、材料固有の特性を最大限活用することに変わりがないからである。本講座は、2部構成とし、前半は半導体デバイスに用いる絶縁膜や半導体の基礎的な電気特性である容量-電圧(C-V)特性や電流-電圧(I-V)特性を評価する上で有用な水銀プローブについて紹介し、各種物理分析と組み合わせて半導体材料の電気特性に影響を及ぼす膜質との関係を示す。後半では半導体デバイスの特性に影響を及ぼす欠陥を電気的に検出する手法であるDeep Level Transient Spectroscopy (DLTS)について、半導体や絶縁膜/半導体界面の欠陥を評価した事例を踏まえてその有用性を紹介する。