Design and production supportの製品一覧

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Reduce the workload from handling heavy objects! Here are five case studies that solved customer challenges! We are also accepting free consultations and tests tailored to your work!

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  • Other conveying machines

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Presentation of explanatory materials on JIS and ISO standards. We propose suitable safety barriers from a rich product series! Free rental of demo kits.

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  • Other safety and hygiene products

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Accurately grasping defects! It is possible to conduct extensive bulk observations as well as partial magnifications, accommodating various types of observations.

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  • Analysis Services
  • Other contract services

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We create new value in semiconductor wafer services such as film formation processing and regeneration processing!

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We undertake contract processing and manufacturing of cross-sections of various parts and materials.

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Cryogenic ion milling cross-section processing example (rubber products)

We will introduce a case where cross-sections were created and observed by method regarding the adhesive parts of the tires of pull-back cars. When conducting SEM observations of the created cross-sections, fillers present inside the rubber were confirmed. It was found that the dispersion state of the fillers and the condition of the adhesive interface were not clear with fracture by liquid nitrogen or mechanical polishing. In contrast, the cross-sections created by cryo ion milling allow for clear observation of the dispersion state of the fillers contained within the rubber and the condition of the adhesive interface with the plastic substrate.

We conduct surface analysis, foreign substance analysis, and organic composition analysis.

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  • Analysis Services

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Analysis of organic-inorganic composite materials using FT-IR and EDX.

We will introduce an example of analyzing organic-inorganic composite materials using FT-IR and SEM-EDX. FT-IR measurements were conducted on the glossy and non-glossy areas of a PET bottle label, and the IR spectra differed between the glossy and non-glossy areas. Since the non-glossy area resembles the spectrum of acrylic resin, it is considered that the main component is acrylic resin. Additionally, SEM-EDX measurements were performed on both the glossy and non-glossy areas, and EDX spectra and backscattered electron images were obtained, revealing that the non-glossy area contained sulfur (S) and barium (Ba), which were not detected in the glossy area.

Leave the sale of replacement machines to us! We handle issues such as LCD display malfunctions and damage!

  • Other processing machines
  • Calibration and repair

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Transitional thermal measurement possible power cycle testing, with a customized luminescence/OBIRCH analysis device, where a skilled team thoroughly evaluates and analyzes power devices!

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Rubber heat aging test

Our company conducts "rubber thermal aging tests" that help evaluate the properties of materials in actual usage environments. Using a method compliant with JIS K6257 (Method for determining thermal aging characteristics of vulcanized rubber and thermoplastic rubber), rubber test pieces are suspended in a gear oven to create specimens with varying heat treatment times. Additionally, tensile tests are performed on heated natural rubber (NR) to investigate changes in mechanical properties, while hardness is measured simultaneously. Changes in the characteristics of the rubber are also examined, confirming that rubber elasticity is lost and the material becomes harder with heating.

I will introduce an example of analysis using EBSD where orientation was observed in the Al wiring.

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Example of analysis of compounds at the SAC solder and Ni pad interface.

We will introduce an example of the analysis of compounds formed at the interface between Sn-Ag-Cu solder and NiP pads. At the interface of NiP pads and Sn-Ag-Cu solder, compounds such as (Ni,Cu)3Sn4 and (Cu,Ni)6Sn5 grow, and surface analysis using EDX shows the distribution of Ni, Cu, and Sn within these compounds. The EBSD method is a technique that analyzes based on the crystallographic information of the sample. By combining it with elemental analysis using EDX, it is possible to estimate the composition, and in some cases, it may be possible to analyze using crystallographic data for Ni3Sn4 and Cu6Sn5 as substitutes.

I will introduce an example of analysis using EBSD for pipes (austenitic).

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Example of analysis of compounds at the SAC solder and Ni pad interface.

We will introduce an example of the analysis of compounds formed at the interface between Sn-Ag-Cu solder and NiP pads. At the interface of NiP pads and Sn-Ag-Cu solder, compounds such as (Ni,Cu)3Sn4 and (Cu,Ni)6Sn5 grow, and surface analysis using EDX shows the distribution of Ni, Cu, and Sn within these compounds. The EBSD method is a technique that analyzes based on the crystallographic information of the sample. By combining it with elemental analysis using EDX, it is possible to estimate the composition, and in some cases, it may be possible to analyze using crystallographic data for Ni3Sn4 and Cu6Sn5 as substitutes.

The EBSD method allows for the estimation of crystal size distribution and residual stress.

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Example of analysis of compounds at the SAC solder and Ni pad interface.

We will introduce an example of the analysis of compounds formed at the interface between Sn-Ag-Cu solder and NiP pads. At the interface of NiP pads and Sn-Ag-Cu solder, compounds such as (Ni,Cu)3Sn4 and (Cu,Ni)6Sn5 grow, and surface analysis using EDX shows the distribution of Ni, Cu, and Sn within these compounds. The EBSD method is a technique that analyzes based on the crystallographic information of the sample. By combining it with elemental analysis using EDX, it is possible to estimate the composition, and in some cases, it may be possible to analyze using crystallographic data for Ni3Sn4 and Cu6Sn5 as substitutes.

Observing crystal structures with EBSD! Data can be obtained for each metal.

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Example of analysis of compounds at the SAC solder and Ni pad interface.

We will introduce an example of the analysis of compounds formed at the interface between Sn-Ag-Cu solder and NiP pads. At the interface of NiP pads and Sn-Ag-Cu solder, compounds such as (Ni,Cu)3Sn4 and (Cu,Ni)6Sn5 grow, and surface analysis using EDX shows the distribution of Ni, Cu, and Sn within these compounds. The EBSD method is a technique that analyzes based on the crystallographic information of the sample. By combining it with elemental analysis using EDX, it is possible to estimate the composition, and in some cases, it may be possible to analyze using crystallographic data for Ni3Sn4 and Cu6Sn5 as substitutes.

Changes in crystal orientation and crystal grain size can be analyzed! We introduce the EBSD (Electron Backscatter Diffraction) method.

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Example of analysis of compounds at the SAC solder and Ni pad interface.

We will introduce an example of the analysis of compounds formed at the interface between Sn-Ag-Cu solder and NiP pads. At the interface of NiP pads and Sn-Ag-Cu solder, compounds such as (Ni,Cu)3Sn4 and (Cu,Ni)6Sn5 grow, and surface analysis using EDX shows the distribution of Ni, Cu, and Sn within these compounds. The EBSD method is a technique that analyzes based on the crystallographic information of the sample. By combining it with elemental analysis using EDX, it is possible to estimate the composition, and in some cases, it may be possible to analyze using crystallographic data for Ni3Sn4 and Cu6Sn5 as substitutes.

Since semiconductors have different physical properties, new methods are required for failure analysis!

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Announcement of the introduction of Talos F200E

Our company will introduce the FEI "Talos F200E" transmission electron microscope system. Compared to conventional models, the resolution for TEM and STEM has improved, and performance has been significantly enhanced, allowing for EDS analysis with four detectors. Additionally, it is equipped with features such as drift-corrected frame integration (DCFI), which accumulates multiple frames while correcting for drift.

We will introduce a comparison of brightness and characteristics between good products and ESD-damaged products, along with examples of luminescence analysis using EMS microscopy!

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Shorter delivery time than his method! Both shape observation using FIB-SEM and diffusion layer observation can be performed!

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Power device failure location / Slice & View three-dimensional reconstruction

I will introduce the three-dimensional reconstruction of failure locations using the Slice & View function of FIB-SEM. Continuous SEM images of the structure are obtained, and the resulting images are corrected for positional misalignment between the SEM images and visualized in three dimensions using 3D construction software (Avizo). By combining the position identification technique for cross-sectioning the failure location with the Slice & View function, it is possible to obtain continuous SEM images that retain the defective state and include information before and after the abnormal area.

EELS analysis for element identification allows for the comparison of the bonding states of materials!

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"SEM images" and "absorption current images (current sensing)" etc.! It identifies open defects in wiring and areas with high resistance defects.

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The inspector observes without missing anything! Consistent whisker evaluation is possible from reliability testing to analysis.

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Appearance observation and measurement services

We would like to introduce our "Appearance Observation and Measurement Service." We are equipped with a variety of devices to meet your needs, including appearance observation before and after reliability testing, solder joint observation, as well as dimensional measurements and surface roughness measurements of various components. You can also leave the pre-observation processing to us. Our company has IPC-certified IPC specialists on staff. We provide assistance with observations, consultations, and solutions to various observation-related concerns in accordance with international standards.

We will introduce EBSD analysis that reveals areas where distortion has accumulated in the wiring of the bending section!

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We will narrow down the defective areas through lighting confirmation, panel disassembly, and optical microscope observation!

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Observation of Conductive Particle Shape in COG Implementation

We will introduce the observation of the shape of conductive particles in COG implementation. ICs and liquid crystal panels are implemented using the COG method with ACF (anisotropic conductive film). A resin ball is used as the core, and a metal layer (such as nickel or gold) for conductivity is deposited on its surface. During connection, the particles deform appropriately to electrically connect the IC and the panel. To confirm the degree of particle deformation and connection status, cross-sectional observations were conducted, revealing that the particle deformation was at a "medium" level, indicating an appropriate degree of deformation. By examining the deformation of conductive particles from both the planar and cross-sectional directions, we can explore the correlation with display defects. Please feel free to contact us for any inquiries regarding panel-related defects.

Analysis of inorganic compounds such as metal oxides is also possible! We will introduce the analysis of black spots on the surface of copper-clad laminates.

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Chemical Analysis Concierge Service

We would like to introduce our "Chemical Analysis - Trust Us Service." When conducting component analysis of foreign substances or stains on products, it can be challenging to determine whether organic analysis or inorganic analysis is more suitable, and which specific analysis within organic or inorganic is the most appropriate. We provide a comprehensive service for customers who are struggling with the selection of analysis methods. Since each analysis device can measure different targets, it is necessary to choose a method that fits the purpose based on the information available.

Useful for long-term quality control! Ultra-microhardness measurement of materials such as metals, polymers, and ceramics.

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Tensile test

The "tensile test" is a test that measures the load and displacement (elongation) when a material is pulled at a constant speed, in order to determine the physical and mechanical properties of the material. By pulling the test specimen in a temperature-controlled chamber, it is possible to determine and understand the temperature dependence of these properties. Our company is capable of conducting material property tests under temperature-controlled conditions. We can also propose conditions tailored to the materials and properties you wish to measure. Please feel free to consult with us.

Non-destructive X-ray observation is effective for initial inspection! We will introduce examples of defect analysis.

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Estimate bonding states by comparing with standard spectra! Introducing state analysis using EPMA.

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Detection sensitivity is excellent! It is particularly superior in quantitative analysis of trace components and map analysis.

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Supports 100×100mm size! The movable stage allows for extensive mapping.

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We conducted an observation of the fracture surface of the crab claw that was damaged due to long-term use!

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Observation of the misalignment of the internal metal plate! This is a case study of a toggle switch observed using X-ray fluoroscopy and orthogonal CT observation.

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Analysis case of faulty switch contacts

Since a malfunction was suspected in the switch section of the appliance that would not power on, we will introduce a case study along with the work flow. First, we check for any shape changes such as swelling, cracking, or discoloration through visual observation. In the electrical check, we confirm whether the malfunction can be reproduced and whether it is an open or short circuit. An internal observation using X-rays revealed that the contact terminals inside the switch had melted, scattered, and disappeared, resulting in an open failure. Ultimately, we will submit a report that includes the consideration of the cause. We also accept inquiries for analysis consultations after non-destructive testing, so please feel free to contact us.

Support from reliability testing observations to 3D measurement! It is possible to conduct whisker evaluations while eliminating transportation risks.

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Evaluation of various implementation substrates

At Aites Co., Ltd., we provide a wide range of technical services for evaluation tests of printed circuit boards (mounted boards) equipped with electronic components. We conduct reliability tests, solder joint observations, whisker observations, and cross-sectional observations. We have IPC-A-610 certified IPC specialists on staff who can assist with observations in accordance with international standards, consultations, and various observation-related concerns. Additionally, we offer services such as X-ray observations, appearance inspections, and shape measurements, so please feel free to consult with us when needed.

Observation using optical microscopy and ultra-low acceleration FE-SEM! Detailed structural analysis and elemental analysis are possible.

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Composition analysis of LIB cathode active materials by ICP luminescence analysis.

This presentation introduces the composition analysis of active materials in cathode materials using ICP emission analysis. The cathode material in lithium-ion batteries (LIB) is one of the important components that influence the battery's voltage and energy density, and the composition of the cathode material significantly affects the battery's performance. ICP emission analysis allows for qualitative and quantitative analysis of approximately 70 elements, primarily metal elements. In addition to composition analysis of LIB cathode materials, it can also be applied to various analyses, including qualitative and quantitative analysis of additives and impurities contained in samples, as well as quantitative analysis of substances regulated by the RoHS directive.

Just the right size with 3D design! Easy organization after removal, and the numbering makes the installation position clear.

  • 3D CAD
  • Other CAD

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It is a bypass tool that integrates the control algorithm of a Simulink(R) model into existing ECU code without changing the ECU source code.

  • Development support tools (ICE, emulators, debuggers, etc.)
  • Prototype Services

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ECU Calibration & DAQ Software All-in-One Platform VISION 7

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  • others
  • Other analyses

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We will also introduce the main types and features of prototype processing, as well as the characteristics of prototype processing using simple die casting!

  • Prototype Services
  • Processing Contract

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A high-precision, multifunctional 3D viewer that is more than a viewer but less than CAD.

  • Data conversion software

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Flexible support for various angles with an adjustable base! A lineup of small vibrators for modal analysis.

  • Other analyses
  • Other machine elements

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New Product: Small Vibrator, Inertial Type: IS Series

The inertial type is designed to be lightweight and compact, making it possible to carry out vibration tests. Since the exciter itself vibrates, it can be directly fixed to the structure or test sample, making it very user-friendly. For more details, please download and view the catalog.

Lightweight, portable, and highly durable! Easy to handle! Some models come with a built-in amplifier and sine wave generator! A variety of lineups available!

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  • Vibration Testing
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New Product: Small Vibrator, Inertial Type: IS Series

The inertial type is designed to be lightweight and compact, making it possible to carry out vibration tests. Since the exciter itself vibrates, it can be directly fixed to the structure or test sample, making it very user-friendly. For more details, please download and view the catalog.

Here is the list of CAD data for easy-to-install and versatile aluminum ventilation grilles!

  • Ventilation and Exhaust
  • 2D CAD Construction
  • air conditioning

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Here is a list of CAD data for easy-to-install and versatile aluminum ventilation grilles that can be mounted anywhere!

  • Ventilation and Exhaust
  • 2D CAD Construction
  • air conditioning

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Easily remove 3D printer supports! Explaining the greatness of the slicing software "Preform."

  • 3D Printer

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Reflecting more realistic tire behavior in model-based development!

  • simulator

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High-performance, highly secure virtual desktop solution.

  • Other CAD related software

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A 3D scanner that can perform 3D scanning in color.

  • 018A9633.JPG
  • 018A9689.JPG
  • 018A9722.JPG
  • Other CAD related software

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We will be exhibiting at Mecatrotech Japan 2025.

The details of the exhibiting manufacturers are as follows: Italian VICIVISION "Optical Shaft Shape Measuring Machine" German WENZEL "Multi-Gear Testing Machine" Polish SMARTTECH "3D Scanner" American FLUKE "Industrial Ultrasonic Camera" Swiss L.E.S.S "Next-Generation Lighting Solutions" Italian MICROREP "Horizontal Universal Measuring Machine" Dutch IAC "Thread Gauge Measuring Machine" German MOEHWALD "Injection Quantity and Rate Measurement Unit" Australian VERSATILE "Automatic Coating Thickness Measurement Machine," "Automatic Front-End Measurement Machine," "Automatic Shell Measurement Machine," "Automatic Enamel Thickness Measurement Machine" German LUBRISENSE "Oil Discharge Analysis Device" French ARCK SENSOR "Pin Hole Detector and Surface Inspection System for Metal Foils" We will exhibit some of the above products, showcasing their technology and performance through monitor videos and other means. We kindly invite you to visit our exhibition booth and appreciate the displays.

Enhance design quality and promote digital transformation. Achieve speedy pattern verification with simple parameter input.

  • s1.png
  • Analysis Services

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User-friendly software for pre- and post-processing of acoustic simulations.

  • eDrive_2d_diagram_surface_noise_level.png
  • SurfaceNoise_Measurement_vs_Simulation.png
  • campbell_eDrive_wide.png
  • Structural Analysis
  • Acoustic Analysis
  • Magnetic field analysis/electromagnetic wave analysis

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3D Linking Software for NAZCA5 CAM Mill (Optional)

  • simulator

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Information on IT Introduction Subsidy 2024

*Please consult us as soon as possible* The public recruitment for the [IT Introduction Subsidy 2024] has started. The IT Introduction Subsidy is a program where the government subsidizes a portion of the expenses for introducing IT tools that meet your company's challenges and needs. Gordo will propose IT solutions tailored to your requirements! <Eligible Products> - Visualization system for factories "Nazca Neo Linka" - IT support for manufacturing sites "NAZCA5 CAD/CAM" - Data management for processing sites "NAZCA5 EDM Lite," etc. In addition to products, installation costs, software operation training fees, and maintenance costs are also eligible for subsidies. *Please note that the supplementary budget is limited and may end early.* When considering this, please consult our sales office as soon as possible (TEL: 053-465-0711).

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