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半導体後工程技術&ソリューション特集

更なる技術開発と市場の拡大が期待される半導体の後工程技術&ソリューション関連の製品を集めました!


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最小分解能2μmの高解像度で先端半導体パッケージの非破壊検査に対応可能なX線源

キヤノンアネルバ株式会社

先端半導体のパッケージング技術が高度化する中、X線による非破壊検査でもますます高解像度の撮影が求められています。 キヤノンアネルバの『G-511シリーズ』は、高解像度・高倍率の撮影が可能な透過密閉型マイクロフォーカスX線源です。最小分解能2μmを実現し、生成AI等に使われる「先端半導体パッケージ」の非破壊検査に対応可能。3分以内で立ち上がるため素早く撮影でき、ターゲットの回転調整も不要です。

  • X線源

半導体の梱包・検査5工程を1名で対応可能に。ヒューマンエラーも防ぐ自動化装置

JFE商事エレクトロニクス株式会社

半導体の製造現場において、人員不足や品質のバラつきが生じている工程の自動化は、生産性向上を図る上で有効です。 JFE商事エレクトロニクスは、段積みトレイの分離からHICの挿入・バンド結束、乾燥剤供給・画像検査、防湿袋梱包、内装箱梱包まで5工程に対応した自動化設備を提供しています。省スペースで安定したスピード・品質を実現。作業履歴も管理しやすく8名分の作業を1名に集約できた実績もあります。

  • 半導体向け自動梱包設備

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