回折装置 - 企業ランキング(全16社)

更新日：2026年06月03日集計期間:2026年05月06日〜2026年06月02日
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会社名	企業情報	代表製品
会社名	企業情報	製品画像・製品名・価格帯	概要	用途/実績例
一般財団法人材料科学技術振興財団　MST	所在地東京都事業内容受託分析サービスで、研究開発を行う皆様をサポートします！半導体・金属・電池などのエレクトロニクス材料や、医薬品・化粧品・食品・環境などのライフサイエンス分野に幅広く対応。 SIMS・TEM・XRD・ICP-MS・GC/MS・AES・SEM・EPMA・EELSなど、さまざまな... 主要取引先半導体・製造装置メーカー、国内自動車・電機メーカー、食品メーカー、化粧品メーカー、医薬品メーカー	［XRD］X線回折法応相談	XRDの評価対象である『結晶』とは、物質を構成する原子あるいは分子・イオンの集団が3次元的に繰り返し配列した状態のことです。Ｘ線を結晶に照射すると、結晶中の電子によりX線が散乱されます（散乱X線）。散乱X線は干渉し合い、ブラッグの法則を満たしたときに強い回折X線が生じます。格...	・ポリSi・金属膜・有機膜の結晶性・配向性評価・ポリSi・金属膜の結晶子サイズ測定・high-k膜・Niシリサイド（NiSi）・Tiシリサイド（ＴｉSｉ）の結晶構造解析・リチウムイオン二次電池電極材料の劣化評価
		[EBSD]電子後方散乱回折法応相談	約60～70°傾斜した試料に電子線を照射すると、試料表面から約50nm以下の領域の各結晶面で回折電子線が作られます。この後方散乱電子回折を解析することで結晶性試料の方位解析の情報が得られます。	・CIGS膜（多結晶太陽電池）の結晶粒評価・SEM装置で格子歪み測定・半導体デバイス金属配線の結晶粒観察・ボイド周辺の結晶粒界の調査・ポリSi TFTの結晶解析・合金層中不明層の結晶性評価・断面からのウイスカの配向測定・金属材料の成長（成膜）技術におけ...
		電子回折の種類と特徴応相談	詳しいデータはカタログをご覧ください	TEM：透過電子顕微鏡法
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一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

所在地

東京都

事業内容

受託分析サービスで、研究開発を行う皆様をサポートします！半導体・金属・電池などのエレクトロニクス材料や、医薬品・化粧品・食品・環境などのライフサイエンス分野に幅広く対応。 SIMS・TEM・XRD・ICP-MS・GC/MS・AES・SEM・EPMA・EELSなど、さまざまな...

主要取引先

半導体・製造装置メーカー、国内自動車・電機メーカー、食品メーカー、化粧品メーカー、医薬品メーカー

代表製品

［XRD］X線回折法

概要

XRDの評価対象である『結晶』とは、物質を構成する原子あるいは分子・イオンの集団が3次元的に繰り返し配列した状態のことです。Ｘ線を結晶に照射すると、結晶中の電子によりX線が散乱されます（散乱X線）。散乱X線は干渉し合い、ブラッグの法則を満たしたときに強い回折X線が生じます。格...

用途/実績例

・ポリSi・金属膜・有機膜の結晶性・配向性評価・ポリSi・金属膜の結晶子サイズ測定・high-k膜・Niシリサイド（NiSi）・Tiシリサイド（ＴｉSｉ）の結晶構造解析・リチウムイオン二次電池電極材料の劣化評価

[EBSD]電子後方散乱回折法

概要

約60～70°傾斜した試料に電子線を照射すると、試料表面から約50nm以下の領域の各結晶面で回折電子線が作られます。この後方散乱電子回折を解析することで結晶性試料の方位解析の情報が得られます。

用途/実績例

・CIGS膜（多結晶太陽電池）の結晶粒評価・SEM装置で格子歪み測定・半導体デバイス金属配線の結晶粒観察・ボイド周辺の結晶粒界の調査・ポリSi TFTの結晶解析・合金層中不明層の結晶性評価・断面からのウイスカの配向測定・金属材料の成長（成膜）技術におけ...

電子回折の種類と特徴

概要

詳しいデータはカタログをご覧ください

用途/実績例

TEM：透過電子顕微鏡法
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事業内容

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