干渉計 - 企業ランキング(全18社)
更新日: 集計期間:2025年09月10日〜2025年10月07日
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企業情報を表示
会社名 | 代表製品 | ||
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製品画像・製品名・価格帯 | 概要 | 用途/実績例 | |
【特長】 ・ウェーハ(シリコン、化合物、酸化物、ガラス)、金属片、ディスク(アルミ、ガラス)、機械部品等のサンプル測定が可能 ・多重干渉縞に対応した弊社独自の位相シフト解析 ・透明体サンプル測定時の裏面干渉を軽減させる独自の干渉性調整機構を搭載 ・お客様によるキャリブレーションが... | 半導体ウェーハ(GaN、SiC、サファイア)などの研究開発、量産ラインで品質向上に | ||
【特長】 ・ウェーハ(シリコン、化合物、酸化物、ガラス)、金属片、ディスク(アルミ、ガラス)、機械部品等のサンプル測定が可能 ・多重干渉縞に対応した弊社独自の位相シフト解析 ・透明体サンプル測定時の裏面干渉を軽減させる独自の干渉性調整機構を搭載 ・お客様によるキャリブレーションが... | 半導体ウェーハ(GaN、SiC、サファイア)などの研究開発、量産ラインで品質向上に | ||
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- 代表製品
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斜入射干渉法フラットネステスター『FT-17』
- 概要
- 【特長】 ・ウェーハ(シリコン、化合物、酸化物、ガラス)、金属片、ディスク(アルミ、ガラス)、機械部品等のサンプル測定が可能 ・多重干渉縞に対応した弊社独自の位相シフト解析 ・透明体サンプル測定時の裏面干渉を軽減させる独自の干渉性調整機構を搭載 ・お客様によるキャリブレーションが...
- 用途/実績例
- 半導体ウェーハ(GaN、SiC、サファイア)などの研究開発、量産ラインで品質向上に
斜入射干渉法フラットネステスター『FT-900』
- 概要
- 【特長】 ・ウェーハ(シリコン、化合物、酸化物、ガラス)、金属片、ディスク(アルミ、ガラス)、機械部品等のサンプル測定が可能 ・多重干渉縞に対応した弊社独自の位相シフト解析 ・透明体サンプル測定時の裏面干渉を軽減させる独自の干渉性調整機構を搭載 ・お客様によるキャリブレーションが...
- 用途/実績例
- 半導体ウェーハ(GaN、SiC、サファイア)などの研究開発、量産ラインで品質向上に
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