振動に強いため除振定盤が不要！位相データへ変換して波面マップへ導きます
当製品は、平面度測定をキャリアフリンジ法の特長を生かして測定する 縦型干渉計です。 8インチ(Φ200mm)サイズのサンプルの平面度測定が可能で、縦型に設置する ことにより作業効率が向上。 測定中の振動の影響を受けにくく、連続測定が可能になり、サンプルの 測定結果をリアルタイムで見ることができます。 【特長】 ■干渉計本体を縦型に設置 ■振動に強いため除振定盤が不要 ■リアルタイム測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【仕様(抜粋)】 ■光源：He-Ne Laser ■干渉計タイプ：フィゾー型レーザー干渉計 ■設置形態：垂直 下向き ■電源：24V ACアダプター ■動作環境：15～30℃ ■本体寸法：W700×T800×H1535mm(ベースおよびレンズ調整台含まず) ■本体質量：約153kg ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯
納期
用途／実績例
【用途】 ■加工現場 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
当社は、宇宙レベルの光学ノウハウで、お客様のビジネスを支援する 光学コンサルティング・光測定計測器のスペシャリストです。 他社がやらない難しい製品開発を大学の先生方や公設研究所の先生方と 長年地道に手掛ける中で、例えば高磁場下での光学観察や 宇宙望遠鏡の製造、長距離間での干渉計による測定などを実現し ノウハウを蓄積してまいりました。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。