描画装置のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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描画装置 - 企業ランキング(全9社)

更新日: 集計期間:2025年04月09日〜2025年05月06日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

会社名 代表製品
製品画像・製品名・価格帯 概要 用途/実績例
【描画モードの一例】 ■描画モード:HR(High Resolution Mode 0.3um) ■最小アドレスグリッド(nm):5 ■最小描画サイズ(μm):0.3 ■エッジラフネス(3σ、nm):50 ■CD均一性(3σ、nm):60 ■重ね合わせ精度(3σ、nm):500 【用途】 ■小ロットのマスク作成 ■マスクレス露光、レーザー直描、レーザー直接描画、2.5Dグレースケール露光 ■半導体、FPD、センサー、MEMS、 マイクロ流路、マイクロオプティクス、導波路、DOE、ホログラムなどのパターニング ■その他マイクロストラクチャ製作が必要なアプリケーション
【装置性能】 *バイナリ描画時、Write Mode1選択時 ■最小描画サイズ [μm] : 0.5 ■最小 L&S [HP, μm] : 0.7 ■ラインエッジラフネス [3σ、nm]: 40 ■CD均一性 [3σ、nm] : 60 ■レジストレーション [3σ、nm]: 200 【用途】 ■厚膜レジストへの2.5Dグレイスケール露光(マイクロレンズ、フレネルレンズ、DOE、ホログラム印刷、セキュリティ用途、など) ■マスクおよびウエハーその他基板への露光 ■半導体、センサー、MEMS、 MOEMS, マイクロ流路、導波路、および微細構造を必要とするその他すべてのアプリケーション向けのパターニング
【基本性能】 ■最小図形寸法: 500nm ■描画速度: 580mm2/分(FXモード時)、325mm2/分(QXモード) ■ラインエッジラフネス:20nm(QXモード) ■CD均一性:30nm(QXモード) ■オーバーレイ: 30nm(QXモード) ■ポジション精度:40nm(QXモード) ■最大描画エリア:228mm x 228mm(オプション 最大400mm x 400mm) ■マスク用オートローダー 半導体用ホトマスク
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  1. 代表製品
    レーザー直接描画装置『DWL 66+』レーザー直接描画装置『DWL 66+』
    概要
    【描画モードの一例】 ■描画モード:HR(High Resolution Mode 0.3um) ■最小アドレスグリッド(nm):5 ■最小描画サイズ(μm):0.3 ■エッジラフネス(3σ、nm):50 ■CD均一性(3σ、nm):60 ■重ね合わせ精度(3σ、nm):500
    用途/実績例
    【用途】 ■小ロットのマスク作成 ■マスクレス露光、レーザー直描、レーザー直接描画、2.5Dグレースケール露光 ■半導体、FPD、センサー、MEMS、 マイクロ流路、マイクロオプティクス、導波路、DOE、ホログラムなどのパターニング ■その他マイクロストラクチャ製作が必要なアプリケーション
    レーザー描画装置『DWL 2000 GS』シリーズレーザー描画装置『DWL 2000 GS』シリーズ
    概要
    【装置性能】 *バイナリ描画時、Write Mode1選択時 ■最小描画サイズ [μm] : 0.5 ■最小 L&S [HP, μm] : 0.7 ■ラインエッジラフネス [3σ、nm]: 40 ■CD均一性 [3σ、nm] : 60 ■レジストレーション [3σ、nm]: 200
    用途/実績例
    【用途】 ■厚膜レジストへの2.5Dグレイスケール露光(マイクロレンズ、フレネルレンズ、DOE、ホログラム印刷、セキュリティ用途、など) ■マスクおよびウエハーその他基板への露光 ■半導体、センサー、MEMS、 MOEMS, マイクロ流路、導波路、および微細構造を必要とするその他すべてのアプリケーション向けのパターニング
    半導体用マスクレーザー描画装置『ULTRA』シリーズ半導体用マスクレーザー描画装置『ULTRA』シリーズ
    概要
    【基本性能】 ■最小図形寸法: 500nm ■描画速度: 580mm2/分(FXモード時)、325mm2/分(QXモード) ■ラインエッジラフネス:20nm(QXモード) ■CD均一性:30nm(QXモード) ■オーバーレイ: 30nm(QXモード) ■ポジション精度:40nm(QXモード) ■最大描画エリア:228mm x 228mm(オプション 最大400mm x 400mm) ■マスク用オートローダー
    用途/実績例
    半導体用ホトマスク