【MSTホームページ】有機ELの分析特集 part2★TOF-SIMS分析新サービス公開

MSTは、有機ELの開発を分析サービスで強力サポートいたします!
画素の高精細化に伴いパターンが微細化されてる有機ELパネルについて、積層された有機膜の各原料を推定する測定環境を整えました。
デバイス評価・劣化評価を通じて、MSTは皆様の研究開発に貢献いたします。
★★★今回紹介の分析事例★★★
・有機材料劣化成分の深さ方向分析
~有機EL劣化層の成分評価~
・ポリイミド成分の深さ方向分析
~有機材料の表面改質層評価が可能です~
・有機EL成分の深さ方向分析
~微小画素領域での有機成分評価~
【新サービスです!】
TOF-SIMSの新スパッタ条件により、有機成分を壊さず
深さ方向分析が可能になりました。
・有機EL材料の構造推定
~Q-Tof型LC/MS/MSを用いた材料の構造推定事例~
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詳しいデータはリンク先をご覧ください!!
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