ネプコンジャパン 2025

高精度・高速光計測センサ、レーザ溶接、溶接中モニタリングなどバッテリー開発・生産に必要な製品ソリューション

■光計測センサ 　・Enovsaense - 不透明体の厚み測定 　　　バッテリーのグラファイトコーティング厚み 　・Field Sensor - 内部欠陥検査 　　　溶接内部の欠陥をエリア検査 　　　(クラック、ブローホール、ピンホールなど）　 　・デュアルポイントセンサ(DPS) - 電極厚み測定 　　　距離センサ2個の挟み込みによる高速・高精度測定 　・FSS - 絶縁層厚み測定 　　　ガルバノミラーとOCTを組み合わせ、 　　　高速に厚みプロファイルを取得 　・CVC(ラインカメラ) - バリ検査 　　　バッテリーフォイル切断後のバリ自動検査 　・CLS(3Dラインセンサ）- バッテリー溶接部形状 　　　高速３Dラインセンサでの形状測定 ■溶接モニタリング 　・LWM - レーザ溶接　In Processモニタリング 溶接時の3種類の光から良品判定 　　　実績1.5万台以上 ■レーザ溶接 　・Scan Master - レーザ溶接 様々な機能を組み込まれた溶接ヘッド

• 欠陥検査装置

不透明体の厚み高精度測定なら、Enovasenseの レーザフォトサーマルセンサ。材料に依らず、最小10nmから厚み測定可能。

フランスのEnovasense社のセンサは、レーザフォトサーマル技術を使用した 高性能なセンサで、非接触で不透明体の厚みを測定できます。 ■特長 　・非接触で、不透明体の厚み測定が可能。 　　破壊試験が不要に。 　・最小10nm～最大1mmまでの広範囲な測定範囲。 　・0.5~3%以下の高精度測定が可能。 　　精度が不足している方にお勧め。 　・母材に依らず様々な材料の組み合わせで測定可能。 ■アプリケーション 　自動車業界、航空業界、日用品、産業品、医療業界、半導体など多岐にわたる分野にて、 　コーティング厚み、金属メッキ厚み、塗装膜など様々なアプリケーションで使用されています。 ＊現在、Enovasense社は、ドイツの光学センサメーカーのPrecitecのグループ会社となっています。 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。

• 膜厚計

フィルムやコーティング、非接触の厚み測定を安価な距離センサーで。斜面にも強く、距離方向分解能20nmを実現！

当社プレシテック・ジャパンの光学式距離センサ/厚みセンサ『CHRocodile C / CHRocodile Mini』は、 測定レンジの範囲が広い非接触コンパクトセンサーです。 斜面にも強く、距離方向20nm～の高分解能でありながら、安価な約100万円～（税別）からご購入可能です。 【活躍シーン例】 ●装置内での製造品の高さ・距離測定による全数検査 ●ガラスやフィルム、グラファイトコーティングの厚みの管理による品質向上 ⇒製造装置メーカーや検査装置メーカー、インテグレータ様にてご採用いただいています。 【特徴】 ・高分解能と購入ハードルを抑えた価格帯を両立 ・フィルム、コーティングの厚みを非接触で測定 ・角度許容度最大+-45度で斜面にも強い ・距離方向分解能20nm～ ・提供するソフトウェア開発キットで自由にソフト作成可能 ・装置組み込みも可能 ・表面や形状に依存せず、粗面及び鏡面にも対応 ※製品詳細は［PDFダウンロード］から資料にてご覧いただけます。 　お問い合わせもお気軽にどうぞ。

• 距離関連測定器

高速な不透明膜の厚みマッピング、内部欠陥のエリア検出が可能なレーザーフォトサーマル式センサ

フランスのEnovasense社のセンサは、レーザフォトサーマル技術を使用した 高性能なセンサで、非接触で不透明体の厚みを測定できます。 本新製品は、従来のシングルポイントセンサと異なり、約１１万点を同時に測定できるエリアセンサです。 不透明体の厚みマッピングだけでなく、表面層下の欠陥、欠け、剥がれの有無を検知できます。 ■特長 　・非接触で下記が測定できます。 　　　☆不透明体の厚みマッピング 　　　☆不透明な表面材料層下の欠陥検知 　　破壊試験が不要になります。 　・エリアセンサのため、１秒で約１１万点の同時測定が可能。 　・溶接部など、従来Ｘ線、ＣＴスキャンが必要な箇所の欠陥検知にも適用可能。 　・母材に依らず様々な材料の組み合わせで測定可能。 ■アプリケーション 　自動車業界、航空業界、日用品、産業品、医療業界、半導体分野。 　コーティング厚み、金属メッキ厚み、塗装膜、溶接部など様々なアプリケーションで使用可能です。 ※詳しくはPDFダウンロード、またはお問い合わせよりご確認ください。

• 欠陥検査装置

非接触の光学厚み測定。高精度が求められる半導体ウエハの厚み測定でも適用可能。

新製品『CHRocodile 2LR ver2』は、ウエハやコーティングなど材料厚みを非接触測定できる装置です。前回の『CHRocodile 2LR』と異なる新ディテクタを採用し、約２倍の厚み測定範囲、かつより高精度に測定できるようになりました。インラインでも適用可能で、CHRocodile 2LRは多くのお客様へ実績があります。Si等の半導体ウェハー厚み測定をはじめ、フイルム、樹脂、ガラス、太陽電池等の厚み測定も可能です。干渉膜厚最大16層まで対応しています。 【特長】 　■幅広い厚み測定範囲 、様々な材質に対応 　　　豊富なプローブラインナップで、厚みは薄膜（数32um)～厚膜(3900um)までカバー。(高精度な測定帯域は、16~1900um。線形性0.35um) 　■高分解能（サブミクロン 最小1nm） 　■開発コスト低減、開発納期短縮に貢献できる、 　　　装置組込み用のソフト開発キット（DLLなど)も用意 　■半導体業界で豊富な実績 ※詳しくは資料をご覧ください。

• 膜厚計
• その他検査機器・装置

従来の色収差共焦点法・分光干渉法に加え、レーザー加熱を利用した厚み測定センサも登場。非接触で透明体だけでなく不透明体の厚みも測定

プレシテックはドイツの非接触センサメーカーです。色収差共焦点法、分光干渉法を利用した光学式センサの開発・製造をしています。 2022年末にフランスのEnovasense社を買収し、不透明体の厚みを測定できるレーザー加熱を利用したセンサもラインナップに加わりました。 高速・高精度な厚み測定を得意としており、ウエハ、コーティング、フィルム、塗装膜、防食コーティング、フィルムなどの検査に使用されています。幅広い測定範囲 、許容角度、様々な材質に対応でき、全面測定に向いているラインセンサ、エリアスキャナもあります。 半導体製造装置への搭載実績も多数あり、LCD製造装置、フィルムのインライン検査でも使用されています。また、スタンドアロンなどの卓上機の組み込み用センサとしても利用されています。 Enovasense社のセンサは、航空関係の部品の塗膜、コーティング厚みでの実績もございます。 ※製品詳細は［PDFダウンロード］から資料にてご覧いただけます。 　お問い合わせもお気軽にどうぞ。

• センサ

開催日時　2025年7月23日（水）～25日（金）　10:00～17:00 開催場所　東京ビッグサイト 東展示棟 オンライン展示会 開催期間　2025年7月1日（火）10:00～8月29日（金）17:00 同時開催 国際ドローン展 オンラインプラントメンテナンスショー インフラ検査・維持管理・更新展 建設防災・資材展 土木・建設DX/システム/ツール展 無電柱化推進展 交通インフラ設備機器展

【セミナー概要】 業務効率化や社内DXの活用方法として、注目度が高まっている「生成AI」。しかし使用する社員のリテラシーに左右され、かえって業務の負担が大きくなってしまう可能性もあります。 そこで、今回のセミナーでは、生成AIの現状の課題をお伝えしつつ、生成AIを活用した業務効率化の 事例に加え、どのように生成AIを利用すると効率化が実現できるか、使い手に左右されない利用方法について解説します。ぜひ、生成AIの活用の検討に参考にしてみてください。

【セミナー概要】 上司と若手のコミュニケーションのすれ違いが原因で、若手メンバーが退職してしまうことは、どの業界でも起こっている現実です。建設業界ももちろん同様に起こっています。 長年の課題である人材不足、業務時間の上限規制、それに加え高齢化に伴う技術伝承も大きな課題になっていますが、伝えるはずの若手社員のとのコミュニケーションのズレによりかえって自体を悪化させてしまいかねません。 そこで今回のセミナーでは、事例から見るコミュニケーションのズレの原因をお伝えしつつ、ITツールを活用した、技術伝承、ナレッジ蓄積、円滑な社内コミュニケーション方法についてお話します。

【セミナー概要】 生成ＡＩの誕生により、ますます業務効率化が進んでいますが、DXに取り組んだ結果、成果が出ている企業と出ていない企業が2極化している調査結果が出ています。 そこで今回のセミナーでは、なぜ2極化してしまうのか、原因をお伝えしつつ、効果を感じられる すぐに始められる業務効率化の内容についてお伝えしていきます。

工業材料や製品の構成元素や不純物元素含有量の把握、製造工程のトラブル対応、工場排水や市場品の調査など、研究・開発、生産、品質保証をはじめ、あらゆる場面で無機元素分析が必要とされています。無機元素分析の主な手法として、ICP発光分光分析法（ICP-OES）、ICP質量分析法（ICP-MS）、原子吸光分析法（AAS）が用いられています。ICP-OES、ICP-MS、AASは溶液試料として分析装置に供する必要があり、時には熟練を要する煩雑な化学的前処理も必要です。 　本講座では、各分析法の原理、特徴、測定手順や測定時の注意点、スペクトルの見方など基本的な解説を行います。加えて、測定に必要な溶液を得るための基本的な前処理方法や処理環境、作業の注意点などについても紹介いたします。最後に、ICP-MSに関する最近の応用例について紹介します。