ナショナルインスツルメンツ社互換PXIモジュールの販売開始!!

PCI Express 3.0テクノロジを搭載した高性能18スロットPXI Expressシャーシ

PXC1191は、PCI Express 3.0テクノロジを搭載した高性能18スロットPXI Expressシャーシです。24GB/sのシステム帯域幅を実現し、高スループットのポイントツーポイントデータ転送アプリケーションに最適です。すべての周辺スロットは最大8GB/sの帯域幅をサポートします。さらに、シャーシは合計1170Wの電力を供給し、スロットあたり50W/82Wの冷却能力を備えているため、高性能PXIモジュールに高い電力バジェットを提供します。 PXI Express のタイミングおよび同期機能は、外部クロックおよびトリガー ルーティング機能とともに、高いクロック精度を提供します。 PXC1191は、ファン速度、システム電圧、内部温度などのシャーシの状態を追跡・報告するインテリジェントな監視システムを搭載しています。イーサネットポートを介してリモート監視と制御が可能です。

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シャーシ全体のステータスを追跡するインテリジェントなシステム監視コントローラ搭載

PXC1180は、PXI ExpressとcPCI Expressの両方の規格に対応した9スロットシャーシで、高帯域幅のテストと計測アプリをサポートします。システムスロット1基、システムタイミングスロット1基、7基の混在ペリフェラルスロットを備え、ハイブリッド設計により、各種モジュールを装着可能で柔軟性を実現します。4リンク構成で、8GB/秒のシステム帯域幅と2GB/秒のスロット帯域幅を提供します。背面には10MHzクロック入出力用BNCコネクタがあり、補助デバイスとの同期を可能にします。ファン速度や温度を追跡する監視機能があり、55℃以下で400Wの電力を供給。背面の120mmファン2基で冷却性能も優れています。

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PXI高精度ソース計測ユニット（SMU）は、電圧と電流を同時に出力・計測が可能

PXI高精度ソース計測ユニット（SMU）は、電圧と電流を同時に出力・計測できます。従来のSMU SCPIコマンドをサポートしているため、テストコードの移行が迅速かつ容易です。主要メーカーのPXIeシャーシと互換性があり、マルチカード同期をサポートすることで、高チャンネル密度テストを実現します。製造テストシステムへの統合が容易で、テスト効率の向上とコスト削減を実現します。

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様々なテストおよび計測アプリケーションに最大限の演算能力を提供

PXC2190 PXI Express組込みコントローラは、第7世代Intel Core i7プロセッサと最大32GBの2400MHz DDR4メモリを搭載し、ハイブリッドPXI Expressベースのテストシステム向けに特別に設計されています。様々なテストおよび計測アプリケーションに最大限の演算能力を提供します。シングルプロセッサ上に専用演算エンジンを搭載しているのでマルチタスク環境において複数の独立したタスクを同時に実行できます。4リンクx4またはデュアルリンクx8のPXI Expressリンク機能をサポートし、PCI Express 3.0バス経由で最大16GB/秒のシステムスループットを実現します。 PXC2190 は、2 台のモニターに接続するための2つのDisplayPortコネクタ、高速周辺機器用のデュアルUSB3.0接続、デュアル ギガビット イーサネット ポート、周辺機器とUSB計測器の制御用の4つのUSB2.0ポート、GPIB 計測器接続用のMicro-D GPIBコネクタなど、十分なインターフェイス柔軟性を提供し、ハイブリッド PXIベースのテスト システムの制御に適しています。

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• 試験機器・装置

周波数範囲は300MHz～8GHzをカバーし、最大瞬時信号帯域幅は1GHz

SGRシリーズPXIe RFベクトル信号トランシーバモジュールは、RF広帯域ベクトル信号受信および生成機能を統合しています。高い統合性と柔軟な使用方法により、PXIeシステムのモジュール型再構成可能な構成をサポートします。 周波数範囲は300MHz～8GHzをカバーし、最大瞬時信号帯域幅は1GHzです。汎用性の高い一般的な変調・復調機能に加え、3GPP標準通信の変調・復調機能も備えています。オプションのハードウェア変調・復調機能も利用可能で、現在および将来のRFチップテストの課題に迅速かつ効率的に対応するために必要な性能を提供します。

• 高周波・マイクロ波部品

9kHz～43GHzの周波数範囲での送受信をサポート

FEU3543およびFED3543アップコンバータ／ダウンコンバータは、9kHz～43GHzの周波数範囲での送受信をサポートします。SGR RFトランシーバと統合することで、さらに広い周波数範囲をカバーする広帯域信号生成・解析システムを構築できます。さらに、これらのアップコンバータ／ダウンコンバータは外部LO信号入力をサポートしているため、MIMOなど、高度な位相同期が求められるアプリケーションにも最適です。 コンバータはコンパクトなモジュール設計を特徴としており、高いパフォーマンスを保証すると同時に、高度に統合された複雑なアプリケーションにも優れた適応性を提供します。

• コンバーター

自動試験環境やデータ収集システムにおいて、複数のRF信号を計測機器にルーティング

SSM3000シリーズRFスイッチモジュールは、自動試験環境やデータ収集システムにおいて、複数のRF信号を計測機器にルーティングするために設計されています。これらのスイッチモジュールは、ソフトウェア制御によるスイッチ接続を可能にし、試験中に複数のチャネルを頻繁に切り替えることを可能にします。実験室試験、生産ライン設備、その他の分野で幅広い用途に使用されています。

• スイッチ

当社は、2025年7月9日（水）～7月11日（金）に東京ビッグサイトにて開催された「第27回インターフェックスジャパン」に出展いたしました。 おかげさまで多数のお客様にご来場いただき、盛況のうちに終了いたしました。 ご来場いただきました皆様には心より御礼を申し上げます。 今回は「地球を守る、ひとつひとつの包装から。」をキャッチコピーに、各分野でサステナブルな製品・サービスをお客様にご提案いたしました。 詳細は関連リンクをご覧ください。

オンライン掲載日：2023年6 月9日韓国から発表された論文「水中で超高い安定性を持つサブ200nmナノバブルの評価」では、あらゆる状況下でもナノバブル（UFB）は８０％から９０％濃度を維持できると発表されています。 発表内容について確認するために２０２５年７月１１日、当社で次の通り実験しました。 水道水とオーラブルで生成した水を真空状態で３０分間沸騰させました。水中の溶存（溶けた）気体の大半は大気に出ていき脱気されますが、小さな泡の状態で水中を漂うUFBは水中に留まることが氷の状態から観て取れました。 詳しくはPDFファイルをご参照ください。

２次元検出器や多軸ステージの導入により材料分析メニューが充実しました この度、当社では新たにＸ線回折装置を導入いたしました。 この装置は、大型２次元半導体検出器や大型多軸ステージを搭載し、 従来に比べ高効率、高精度の分析が可能になりました。 これにより粉末を対象とした分析に加え、 金属部品の微小部測定や高配向材料（結晶方位が制御された材料） の解析など、材料分析への適応範囲が拡大しました。 ここでは、腐食調査に関する分析例や新たに測定可能になった結晶方位解析に 関する分析事例をご紹介します。 事例についてまとめた資料を提供します。 ご希望の方は下記URLよりご請求ください！ https://mono.ipros.com/product/detail/2001507287

Mvit PXIモジュール式計測器は、LabVIEW、C、C++、C#プログラミング言語をサポートしています。 そのため、当社のPXI機器はシステム統合のためにLabVIEWと互換性があります。 また、Mvitは、PXIモジュール式計測器を使用するためのLabVIEWツールキットとソフトパネルソフトウェアを提供しています。

会期：2025年9月10日（水）～ 9月12日（金）の３日間 会場：東京ビッグサイト 西３・４ホール 主催：（一社）発明推進協会、（一社）日本特許情報機構、産経新聞社 入場無料（登録制） ★弊社展示ブース位置：Ｗ３－２８★ 会場でサーチャとの交流をご希望される場合は、 事前のスケジューリングも承っております。 このページの「お問い合わせ」または、 techno-sales@jp.pasona.com までご連絡ください。