<半導体材料 × ICP-MS> 金属マトリクス試料中の ppt オーダーの Na、K の定量分析

ホットプラズマ条件における Na、K のバックグラウンドを飛躍的に低減するイオンレンズを紹介します。半導体分野における金属マトリクス試料中の ppt オーダーの Na、K 分析のソリューションを提供します。

開催日時 | 2025年09月05日(金) 10:30 ~ 11:00 |
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会場 | 幕張メッセ会議場 104 会議室 |
参加費 | 無料 |
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