半導体・電子部品用像質計『Semiconductor Wire IQI』を2026年7月30日に販売開始
非破壊検査機器を販売する株式会社NDTアドヴァンスは、電子部品・半導体デバイスの放射線透過検査における画像品質と再現性を確認するためのSemiconductor Wire IQI(半導体・電子部品用像質計)の販売を、2026年7月30日に開始します。
Semiconductor Wire IQI(半導体・電子部品用像質計)は、ASTM E801に基づき、電子部品・半導体デバイスの放射線透過検査における画像品質と再現性を確認するためのIQIです。透明アクリル樹脂、シム材、鉛粒子、タングステンワイヤ、鉛製識別番号で構成され、検査対象となる電子部品の透過条件に合わせて使用します。

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