電子部品・半導体デバイスの画像品質と再現性を確認するためのIQI
Semiconductor Wire IQI（半導体・電子部品用像質計）は、ASTM E801に基づき、電子部品・半導体デバイスの放射線透過検査における画像品質と再現性を管理するためのIQIです。透明アクリル樹脂、シム材、鉛粒子、タングステンワイヤ、鉛製識別番号で構成され、検査対象となる電子部品の放射線透過条件に近づけて使用します。
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基本情報
ASTM E801 Semiconductor Wire IQIを、#1〜#8の8個セット（ケース付）または単品で取り扱っています。必要なIQI番号を1個単位で選択できます。 ■販売形態 8個セット（ケース付）： ASTM E801 Semiconductor Wire IQI #1〜#8のセット 単品： 必要なIQI番号を1個単位で選択
価格帯
50万円 ~ 100万円
納期
~ 1ヶ月
用途／実績例
電子部品・半導体デバイスの放射線透過検査における画像品質と再現性の確認
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企業情報
NDTアドヴァンスでは、渦流探傷器、超音波厚さ計・探傷器、ブラックライト、浸透探傷剤を中心に、航空および自動車業界向けの非破壊検査機材を販売しています。最先端の非破壊検査機器から、オーソドックスな汎用品まで多数の装置を取り揃えています。ユニークな超音波ボルト軸力計や、国内では入手が難しい海外規格の超音波探傷用試験片やペネトラメーター（IQI・透過度計）も販売しています。 革新的な製品・サービスを提供するとともに、蓄積したノウハウや情報を分かりやすくお客様に伝えします。お気軽にお問い合わせください。
