良品画像から不良品画像と正解マスクをつくる「E3 Anomaly Synthetic Generator」を発売
株式会社TOMOMI RESEARCHは、合成NGデータ生成ソフトウェア「E3 Anomaly Synthetic Generator」を2026年10月27日に発売しました。
良品画像とテクスチャ画像から、欠陥を合成した不良品(NG)画像と、欠陥の位置を画素単位で示す正解マスクを対で作成するWindows用ソフトウェアです。
■量産前で不良品がない段階でも、検査AIの評価データを用意できます
■線状・打痕・異物・カケ・点状・塊状の6種類から欠陥を選び、大きさを指定して合成できます
■欠陥とその周辺以外は元画像と画素単位で一致します
標準価格398,000円(税別、1ライセンス買い切り・初年度保守込み)。14日間の無料評価版をご用意しています。
※合成した欠陥は実際の不良品と同じではなく、検出率や精度を保証するものではありません。

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