JASIS 2019

照射と受光の角度を簡単設定！正光拡散特性（蛍光配光特性）の測定システム

『OP-FL-GONIO-MNシリーズ』は、蛍光の拡散特性が測定できる 分光測定システムです。 ご検討の励起波長に合わせてLEDやレーザー等、好適な励起光源をご提案。 照射（励起）と受光の2軸を手動にて、任意の角度に設定し測定を行えます。 また、オプションとして、ソフトウェアのカスタマイズ、システムの 自動化等も承ります。 【特長】 ■蛍光体サンプルの蛍光拡散（蛍光配光特性）特性の測定を 　安価かつ簡易的に実現 ■照射（励起）と受光の角度を簡便に手動制御 ■ご要望に合わせた励起光源（LED、レーザー等）をご提案 ■サンプルに合わせ特注サンプルホルダを作製 ■ソフト・ハードのカスタマイズ、システムの自動化にも対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他検査機器・装置
• 分析機器・装置
• 分光分析装置

目に見えない程の「黒」を見たことがありますか？

『ベンタブラック S-VIS』は、紫外・可視・近赤外対応の超低反射率ブラックコーティングです。反射率0.23%（@700nm）と極限まで低くほとんど光を反射しないため、立体物に塗布した場合、人間の目には2次元の物体に見えるほどです。 独特の物理的特性と光学的特性を活かし、衛星搭載機器から美術品まで、様々な用途のコーティング材として幅広い利用が見込まれます。ベンタブラック S-VISの低反射率は既存の塗料をはるかに凌ぎ、現在利用できる最も効果的なコーティングです。 【特長】 ■反射率0.2%＠700nm ■紫外～可視～THz領域まで使用可 ■フラットな放射特性（5.5μm付近の不連続特性なし） ■紫外～近赤外領域に好適 ■入射角に対して角度依存性の少ない優れたBRDF特性 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• コーティング剤

膜厚測定向けの干渉スペクトル測定システム

OP-FLMT-IFSは、小型で取り扱い簡便なFlame-T分光器をベースに、ハロゲン光源、2分岐光ファイバ、広帯域ファイバコリメータおよび分光測定用標準ソフトウェアOPwave+を組み合わせた、膜厚測定向けの干渉スペクトル測定システムです。 取得した干渉スペクトルをユーザ自身のプログラムを用いて解析可能なシステムとなります。 またFlame-T分光器はユーザ独自の膜厚測定システムに検出器として組込可能なコンパクトモデルです。

• 膜厚計

KELLER Pressure社はピエゾ抵抗型圧力センサのトップメーカーです。宇宙・航空分野で実績ある圧力センサやデジタル圧力計を中心に、下記仕様の高精度圧力センサ、小型圧力センサ、高速応答圧力センサなどを展示しております。宇宙・航空分野でなぜKELLER Pressure社製品が採用されるのか、他社と何が違うのか、展示品を使いご説明いたします。 【実績一例】 ロケット（燃料、酸化剤）、人工衛星（大気圏突入時の気圧計測）、燃焼圧測定、機体の姿勢制御、デトネーション、国際宇宙ステーション（ISS)、等 当日ブースで打合せや製品紹介を希望される方には、事前予約をお受けしております。ご希望される方はsales.jp@keller-pressure.comへお問合せ下さい。 【出展内容】 広範囲の測定に適した圧力センサを各種取り揃えております 　〇低圧～高圧 (0.5 kPa～200 MPa) 　〇低温～超高温 (-50℃～1000℃) 　〇高精度 (± 0.01%FS～) 　〇コンパクト (Φ 1.4 x 3.1 cm ～) 　〇超高速応答性 　〇デジタル表示圧力計

セントラル科学株式会社は、幕張メッセで開催される「第28回インターフェックスWeek東京」のプロセス検査・測定ゾーンに出展いたします。 当社ブースではSievers ブランドの製薬用水管理に関する測定器および、サステナブル素材研究のニーズに合わせた生分解性試験装置を展示します。 ・展示予定製品 「オンラインTOC計 Sievers M500」 「ラボ型TOC計 Sievers M9型」 「エンドトキシン計 Sievers Eclipse」 「バイオバーデン迅速分析装置 Sievers Soleil」 「BOD/呼吸活性測定器 OxiTop IDS」 また、出展社セミナー会場にて「化粧品の信頼性とサステナビリティを高める洗浄評価・生分解性試験」をテーマとしたセミナーも実施します！ 皆様のご来場を心よりお待ちしております。

この度フォス・ジャパンでは、皆様にフォスの分析装置をご覧いただく機会をご用意いたしました。 本内覧会では、幅広く多くの方々に情報を提供したく、分析装置の選定のヒントや、 今お使いの装置のさらなる有効活用術など、今後の分析について知見を深めたい方から、 分析装置の選定について情報を求めている方まで、充実したセミナーを予定しております。 また、各種NIR装置の展示を予定しており、持参頂いたサンプルを実際に測定することも可能です。 もちろん装置見学のみのご来場も大歓迎です！！ 皆様のご参加を心よりお待ちしております。 ■日時：2026年6月18日 (木)   11:00～16:30（受付開始10:45） ■会場：神戸国際会館 セミナーハウス702号会議室　/　一部オンライン参加可能 ■概要： ・ご挨拶・フォス製品ラインアップ紹介 ※オンライン参加可能 ・NIR基礎と最適な機種の選定について ※オンライン参加可能 ・検量線作成ソフト　FossCalibrator実演　検量線をつくってみよう ※会場のみ ・サンプル測定・内覧会 ※会場のみ 詳細は、PDFをご確認ください。

エイチ・シー・ネットワークス株式会社は、5月13日(水)～15日(金)の3日間にわたり、 東京ビッグサイトで開催される「第17回　EDIX(教育総合展)東京」に出展します。 ■展示会概要 ・展示会名：第17回 EDIX（教育 総合展）東京 ・日時：5月13日(水)～15日(金) 10:00～18:00　（最終日は17:00まで） ・主催：EDIX実行委員会（企画運営：RX Japan株式会社） 教育現場では、BYODの普及・研究データの機密性向上・IoT機器の増加などにともない、従来のネットワーク管理では対応が難しい時代に突入しています。 本展示会で当社は、AIによる自動防御＆予測型セキュリティ、ネットワーク最適化、運用負荷軽減ソリューションをご紹介し、学生や教職員にとって安全で快適な学習研究環境の実現に寄与してまいります。

株式会社三橋製作所は、インテックス大阪で開催される 高機能フィルム展に出展いたします。 皆様のご来場を心よりお待ちしております。