エネルギーの強さに比例した電荷（チャージ）を検出する方式の検出器やセンサが測定対象！　⇒　Cremat社 電荷感応型（チャージ・センシティブ）プリアンプ 製品情報　

容量性センサ用の電荷感応型（チャージ・センシティブ）プリアンプを主体とする Cremat社の製品情報です。

APD（アバランシェ・フォトダイオード）、PMT（光電子増倍管：フォトマル）、MEMS 静電容量方式加速度センサなど、エネルギーの強さに比例した電荷（チャージ）を検出する方式の検出器やセンサが測定対象です。 チャージ・センシティブ（電荷感応型）・プリアンプでは、検出器から来た電荷量に比例した大きさの出力が得られます。 ゲインの違いで、4種類に分かれています。 ガウシアン・シェーピングアンプでは、長く尾を引くテールパルス波形を、ガウス関数の波形に成形します。 シェーピング時間の違いで、8種類に分かれています。 ベースライン・レストアラ（回復回路）は、ベースラインのシフトを補正するモジュールで、高カウントレートの入力パルスに対して効果があります。 評価ボード、アルミニウム・ハウジングを用いると、対象の検出器からの入力が容易に検証できます。 チャージ・センシティブ・プリアンプの完成品には、検出器の高圧バイアス電圧に対応したもの、フォトマルや SiPM を対象とした専用品などがあります。 ガウシアン・シェーピングアンプの完成品は、シェーピング時間の異なる 8種類を用意しています。

• アンプ
• 放射線測定器

T560 ディレイ／パルス発生器で時間差を作り、MCS8A マルチストップTDC/TOFで時間差を測る構成について説明します。

◆T560 ディレイ／パルス発生器 　・ディレイ時間とパルス幅が4チャンネル個別に指定でき、10ps刻みで最大10 秒まで設定可能 　・入出力遅延（インサーション・ディレイ）：21ns 　・最大トリガ・レート：16MHz ◆MCS8A マルチストップTDC/TOF 　・複数のイベントタイムを記録できる8入力のデジタイザ 　・STARTとSTOPの間の時間差を、80psの分解能で最大8.3日まで検出可能 　・STOPは立上り,立下り,または両方のエッジで検出可能 　・STARTとSTOPの閾値レベルは、-1～+1.5Vの範囲を1mV刻みで設定可能 　・タイムビン当り80ps、デッドタイムのないマルチ・イベントタイム・デジタイザ ◆MPA4T TDC/TOFとマルチパラメータMPAの複合機 　・MCS8Aを5入力、タイムビン当り100psにした5入力のデジタイザ 　＋8チャンネルのADC入力ポートを装備したマルチパラメータ・データ収集システム（MPA） 　　⇒超高速リストモード・システムとして動作 　　⇒各ADC入力には、マルチスケーラやTOFデバイスも接続可能

• 放射線測定器
• その他検査機器・装置
• 分析機器・装置

ディレイ時間とパルス幅を10ps刻みで4チャンネル個別に設定できます。入出力遅延は僅か21ns、正確な出力パルスを生成します。

T560シリーズは小型デジタル・ディレイ発生器のファミリーで、OEMでの組み込み用途を想定しています。 ◆TTLレベルのディレイ（遅延）出力 × 4チャンネル 　各チャンネルのディレイ時間とパルス幅が個別に設定可能 ◆ディレイ時間とパルス幅を10ps刻みで設定 　最大10秒まで設定可能 ◆入出力遅延（インサーション・ディレイ）：21ns 　最大トリガ・レート：16MHz ◆ジッタ（ゆらぎ）の少ない高精度フェーズロック・システム 　水晶クロックで遅延の精度を維持 　外的誤差による不確実性を排除 ◆内蔵の水晶発振器によるタイムベース 　外部クロックと同期できる能力 ◆内部トリガ・レート用DDSシンセサイザ ◆汎用的な+12Vの単一電源だけで動作 ◆標準でRS-232シリアル・インターフェースを装備 　Ethernet 付きのオプションも用意 ◆OEMパッケージや内部基板だけのカスタム版も可能

• 信号発生器

時間差を測るTDC ⇒ 現象の速度が測定できます。START信号と8種類のSTOP信号との時間差を80psの分解能で検出します。

最大8種類のイベントタイムを記録できます。 タイムビン当り80 ps、デッドタイムのないマルチ・イベントタイム・デジタイザ（TDC）です。 《特長》 ■80psの精度でパルス幅を検出し、検出器のパルスの面積や高さを計算できます。 ■複数のイベントが重なって発生しても検出可能です。 ■STOPイベントの状態変化を12.5 GHzのレートで評価できます。 ■USB 3.0インターフェイスで、常時240 MB/sのスループットを実現します。 ■オプションの、オーブン付きで発振が安定したクロックも選べます。

• 時間・周波数測定
• その他電気計器

気密性・密封性を検査するための漏れ試験機器を開発・製造・販売している株式会社フクダが、 気密検査の方法や理論を分かり易く解説した技術資料である、 『テクニカルマニュアル（Technical Manual）』 をＰＤＦデータとしてご提供させていただいております。 ぜひこの機会にダウンロードしてご覧ください！

●小型電子部品専用リークテストシステムとは？ 水晶デバイス、セラミック発振子、光デバイス、パワー半導体、CANデバイス、レーザーダイオード、MEMSデバイス、SAWフィルタ、小型リレー、コンデンサなど、気密性が求められる小型電子部品のリークテストを行う装置です。 密封された製品のリークテストは、グロスリークテストとファインリークテストの２種類の検査を行う必要があります。 全行程を一台で行える全自動機や専用機（特注）、抜取り検査に便利な卓上タイプをラインアップしております。

●包装容器エアリークテスト装置とは？ 医薬品などの包装容器の剥がれや破れ、ピンホールの有無を特定し、包装容器の完全性試験（CCIT）を行う漏れ試験装置です。軟包装、ボトル容器、ガラス容器など、医薬包装をはじめとして幅広い種類の包装容器に適用できます。 測定方式は、＜密封チャンバー法（圧力変化漏れ試験法1 ）＞を採用しています。サンプルをチャンバに入れ、加圧または減圧し、チャンバ内の圧力変化を測定することにより、定量的な検査を行います。 製造オフライン、製造インライン、CMC 研究室、品質管理試験室、安定性試験など、さまざまな場面でご利用いただけます。 ※ 検査対象容器のことをワーク、あるいはサンプルと呼びます。ここでは、特定の試料をサンプルと呼称して、用語を使い分けています。

●エアリークテスターとは？ 「エアリークテスター」は、密封されたワークの内側(あるいは外側)を空気で加圧し、圧力変化によって漏れの有無を判定する装置です。 漏れのないマスタと、漏れのあるワークを加圧すると、ワーク側の圧力が低下し両者の間に圧力差が生じます。 この圧力差を測定することで漏れの有無を判定します。 一般的に、差圧式エアリークテストが広く用いられていますが、フクダでは差圧式リークテスタに加え、漏れ量（リークレート）に応じた直圧式リークテストや流量計を用いた製品もラインアップしています。 エアリークテスタは空気（エアー）を測定媒体とするためランニングコストがかからず、環境にも優しい仕様となっています。

●密封品エアリークテスト装置とは？ 電気機器、包装容器（化粧品、食品）などの気密性や密封性、防水性を検査するエアリークテスト装置です。 スマートフォン、タブレット端末、キーレススイッチ、腕時計、ボトル容器、化粧品容器（アイライナー、マスカラ） などの製品の漏れを検査します。 テストに用いる媒体が空気（エアー）の為、ランニングコストがかかりません。