整列治具によってブランクスの連続的な検査も可能です。
透過光により小型水晶ブランクスのベベル形状とX,Y方向の落差など任意の2点間の高低差、或いは普通には見えない裏面にある微小チッピングも同時に検査出来ます 。
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基本情報
【特徴】 ○多値化ユニットの追加によって、濃淡画像を2値化ないしは多値化し、ブランクス寸法や中央のフラット寸法が半自動的に高速で測定出来ます。 ○射光により通常のビデオマイクロスコープになるので水晶ブランクス以外の対象物にも適用可能です。 ○各種検査装置のデモンストレーションなどを受け付けております。 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードして下さい。
価格情報
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企業情報
当社は、「革新技術による設備投資の呪縛からの開放によって、日本の産業力復活を目指す」という基本理念を掲げ、敢えてどん底日本当時の２００３年に設立、産学公連携型の研究開発を基調として水晶デバイスの製造プロセスや金型を中心に独自の材料・加工・表面処理技術に携わって参りました。 今日では、水晶や金型分野だけでなく硝子・ＭＥＭＳ・半導体・他の電子材料分野に至るまで、課題の多いプロセス技術を中心に開発を広げつつ、シナジーのある協業他社の機能商品も揃える一方、広範な技術領域におけるコンサルティングや研究開発事業も行っております。 今後、経済環境がますます厳しくなる中、単なる技術解決に留まらず投資額や環境にも配慮した当社技術が、皆様のご支持をますます得られますよう、よりいっそうの努力をして参ります。