傾斜溝の深さ精度±1μmを実現した粉体粒度分布の高精度検査ゲージ
傾斜溝の深さ精度が±1μmを実現した画期的商品です。ご要望に応じて±0.5μmの深さ精度も可能です。
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基本情報
測定溝深さ精度： ±1μm ゲージメモリ： 0-25、0-50、0-100μm 材質： SUS420J2 SK-3 寸法： 63mm×180mm
価格情報
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納期
用途／実績例
本製品の溝の上に測定対象の粉体を乗せ、スクレーパーを本製品を垂直に当てながら手前に引きます。 粒子の分布により、粒子の大きさを測定します。
企業情報
特に得意としている超精密鏡面加工は最大サイズが片面機でφ1500まで対応が可能です。 精密ステージ・吸着盤などの平面度・平行度・面粗さ向上が得意です。φ300*10t程度のサイズの吸着盤ですと、平面度0.001・平行度0.001、Ra0.01以下(SUS材)を製作しています。 φ100*5t(材質SUS・Ni・Ti・Mo・Ta・W・セラミックス・Si等）では平面度0.001以下、Ra0.001前後の精度のプレートを製作することが可能です、超高精度な治具や金型としてご使用いただいております。 ◆元気なモノ作り中小企業300社2007に選ばれました。◆ ◆2014年経済産業省「グローバルニッチトップ企業100選」に選ばれました◆2018年経済産業省「地域未来牽引企業」に選ばれました。
