FＰＧＡの電圧フィードバック制御で温度制御を大幅に短縮することに成功
ＮＩ社製のFＰＧＡの電圧フィードバック制御で温度制御を大幅に短縮することに成功しました。圧力制御も従来は温度制御時間の関係で一度に大量の製品を計る必要があった。その為圧力制御用の槽内を広く作る必要があり、安定するまでの時間が長くかかってしまっていた。今回のＮＩ社製のＦＰＧＡを導入することで温度制御が早くなった事により一度に測定する個数を減らす事ができた。 このため、圧力制御用の槽内を狭くすることができ、圧力安定時間を短縮することに成功しました。更に電圧電流測定はDAQを使用して一度に複数のターゲットを同時に測定することに成功しました。測定の条件に要する時間を大幅に短縮して測定時間も何倍にもすることができました。 当初、一度の測定にかかっていた測定時間は、300s/400個 1個あたり0.75秒だったのに対し、ＮＩ製品を採用したことにより、一度の測定にかかっていた測定時間は、3s/112個となり、1個あたり0.026秒で約30倍もの大幅な短縮に成功しました。
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(1) 温度の静定時間の短縮化の実現 ペルチェを使用しＦＰＧＡでアナログ電圧のフィードバック制御に変更しました これで温度安定に１時間近くようしていたものは一分以下に短縮することに成功しました。 (2) 圧力の静定時間の短縮化の実現 圧力コントローラも従来は温度制御時間の関係で一度に大量の製品を計る必要があったため圧力制御用の槽 内が広く安定するまでの時間が数分掛かっていたのにたいして温度制御が早くなった事により一度に計る個数 を２０分の１に減らす事で圧力安定時間を数十秒迄に短縮することに成功しました (3)様々な品種への対応の実現 ＬａｂＶＩＥＷとＴｅｓｔＳｔａｎｄを使用して試験部分、制御部分、画面処理などのプログラム を分ける事で、ＴｅｓｔＳｔａｎｄを効率よく使用する事ができ、シーケンスファイル毎に 製品を分けることで将来の品種に対しても対応できるメンテナンス性能の向上に成功した。
価格帯
納期
用途／実績例
温度制御
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