独自の冷熱システムを採用することにより高いスループットを実現
-40~90℃の各温度ステップで製品デバイスの様々な電気、光学特性評価を全自動で行います
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基本情報
【特長】 ●独立した任意の温度設定が可能な2つの温度調整ステージと、 ステージ間を自在に移動する計測ヘッド部を持った計測部構造を 採用することで、従来温調ステップ間の温度待ち時間を利用した 効率的な計測プロセスを実現 ●当社従来機対比で2倍近いのスループットを実現します ●その他機能や詳細については、カタログをご覧ください。
価格情報
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納期
~ 1ヶ月
用途/実績例
○詳細はお問合せください。
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私どもシステム技研株式会社は、総勢50名弱の研究開発型企業であり、一貫したユーザーファースト(顧客第一)の企業理念のもとお客様の様々なご要望にお応えするため、常に創意工夫と技術革新の弛まぬ努力を続けております。1969年創業以来先端デバイスの計測・評価システムを通じて先端技術の躍進に貢献致してまいりました。 近年はオプトエレクトロニクス分野のデバイス計測評価システムのパイオニアとして高い評価をいただいているものと自負しております。 皆様におかれましては、今後とも従来同様のご支援、ご鞭撻を心からお願い申し上げますとともにより多くの人の期待にお答えするシステム技研でありたいと考えております。