粉粒体の測定を必要とする建設、化学、鉱業、金属などの業種からの依頼があります。
粉体、多孔質物質や吸着剤等の表面積、細孔分布および真密度などを測定することにより、細孔構造の解析および性能評価に使われます。
この製品へのお問い合わせ
基本情報
【特徴】 ○測定方法：ガス吸着（BET）法および水銀圧入法 ○対象試料：カーボン（活性炭）、触媒、有機物、鉱物、金属粉等 ○試料の量：1回の測定につき約1g必要 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
価格情報
****** お気軽にお問い合わせください
納期
※お気軽にお問い合わせください
用途／実績例
●詳しくはお問い合わせ下さい。
カタログ（1）
カタログをまとめてダウンロード
企業情報
IHIグループで検査・計測・制御を専門としている総合企業です。 私たち IIC は、株式会社 IHI の検査・計測を担当する部門が1974年に独立し，設立しました。 その後、検査・計測に関する装置を開発・製造する部門を立上げ、さらにIHIグループの制御システムを開発・製造する部門を譲り受け，事業領域を拡大してまいりました。 IHI の研究開発部門の支援も受け、理論的バックグラウンドを有し(Intelligent) かつ総合的 (Integrated) な企業に発展してきております。 検査，計測，制御などの技術をもって、より広範なサービスを提供できる会社を目指しています。