約0.7～1000μmの赤外領域に用いる多層膜干渉フィルター
石英、サファイア、Si、Geなどの赤外用光学基板に多層膜を形成して、 その干渉膜の作用により、赤外線を制御するフィルターです。 使用する光学基板の選択は、材料の光学特性を利用しています。
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基本情報
【製品ラインナップ】 ◯IR-BPF（赤外線干渉フィルター） 波長域を限定した赤外線のみを透過 中心波長に対する半値幅の比率に対応した0型から3型をラインナップ ◯BSE（人体検知用フィルター） 特定の波長以下をシャープにカットして、長波長側を透過する ◯IR-SWPF（赤外ショートウェーブ・パスフィルター） 特定の波長以上を急峻に遮断して、短波長側を透過 赤外ロングウェーブ・パスフィルターと組み合わせ、任意の波長帯で広帯域のBPFも作製可能 ●詳しくはお問い合わせください
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用途／実績例
赤外線ガス分析(CO2、CO、HC、NOX、SOX、O3ガス濃度検知など) 赤外線水分分析(H2Oの吸収帯を検出し、水分量測定器等に利用) 赤外線放射温度計(サーモグラフィー、温度センサー等に利用) 赤外線厚さ計(高分子に含まれるHCの吸収帯を検出し、フィルム厚さ測定器等に利用) ボディーセンサー(人体検知による自動ドアや警報機のセンサー等に利用) ほか
企業情報
1946年の設立以来、光学薄膜技術の向上に努め、 高周波プラズマ・イオン・プロセス技術の確立など、常に技術の最先端を切り拓いてきた日本真空光学。 その卓越した技術力と確かな品質管理体制により生みだされた製品は、 家電から情報・通信、バイオ、宇宙開発など、幅広い領域で高い信頼性を得ています。 このように、光学薄膜技術の応用領域は広大無限。 当社では、技術の新しい可能性を提案していく"問題解決型企業"として、 お客様の抱えるさまざまなテーマに応え、お客様満足を追求し続けます。
