歩留り・選別効率を高める機能を装備。4端子コンタクトチェック機能や充実のインタフェース
LCRメータ「ZM2372」は、電子デバイスの研究・開発から生産・品質保証、さまざまな場面の測定に。最速2msの高速測定を実現、コンタクトチェック機能を搭載したライン向けタイプです。詳しくはカタログをダウンロードしてください。
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基本情報
【特長】 ○測定時間は、RAP,FAST,MED,SLOW,VSLOの5段切り換え。RAPに設定すれば、2ms（1ｋHz)、10ms（120Hz）の高速測定が可能ですので、生産・検査ラインでの部品検査/選別の時間短縮に貢献。 ○測定の基本確度は0.08％の高確度、表示分解能力は最高6桁主要測定範囲で5桁の高分解能を実現。生産・検査ラインや研究開発の現場に信頼の精度で対応。 ○1mHz～100ｋHzの広範囲にわたって、5桁の高分解能で周波数を設定可能。試料の詳細な周波数特性を測定・評価。 ○10mVrms～5Vrmsの広範囲にわたって、3桁分解能で信号レベルを設定できますので、信号レベル依存性の部品などの測定に便利。 ○0～+2.5V（分解能0.01V）のDCバイアス用電源を内蔵。電解コンデンサのような有極性部品や半導体の接合容量測定が可能。 ●詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをダウンロードしてください。
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