半導体の放熱設計に有効!樹脂材料の熱抵抗を測定する測定装置!実際に樹脂が使用される状態に近い条件で熱抵抗を高精度に測定!
「樹脂材料熱抵抗測定装置」は半導体の放熱設計に有効な、樹脂材料の熱抵抗を測定する装置です。 【特長】 ■定常法により、実際に樹脂が使用される状態に近い条件で、接触熱抵抗まで含めた樹脂の熱抵抗を高精度に測定できます。 (測定例:寸法10mm角、厚さ2mmの窒化ケイ素の場合、測定精度は±0.03℃/W) ■樹脂の使用形態に合わせて、一定荷重モードと一定厚さモードを選べます。 (測定例:熱硬化性のある樹脂材料については一定荷重モードで、ゲル状やグリース状の樹脂材料については一定厚さモードで測定することができます。) ※詳細は資料請求して頂くかダウンロードからPDFデータをご覧下さい
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基本情報
【仕様】一部抜粋 ■試料サイズ:10mm角 ■試料温度調節範囲:(冷却水温+20℃)~104℃ ■試料厚さ測定範囲:0~5mm±5μm ■装置質量:450kg ※詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをダウンロードしてください。
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