光が通れば何でも断面計測！薄膜から厚板まで！
実用的な工業用途センサーとして、樹脂板やフィルムの溶着検査や欠陥検査など幅広い検査分野や膜厚測定・変位計測などに適用が可能。 光が通れば何でも断面計測が可能です。 ◆まずはお気軽に「活用事例集」をダウンロードして下さい◆ 詳細はお問合せフォームからお問合せ下さい。
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基本情報
※ WLI：White Light Interferometer ［低コヒーレント光干渉による断層画像化法］ 千葉大学 椎名研究室との共同開発 【透光性層構造の計測】 ■計測深度：最大14mm ■分解能：深さ方向15μm ■サンプリング周波数：15Hz ■使用波長：1310nm(標準)850nm ■光源：SLD □その他詳細については活用事例集をご覧ください
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納期
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用途／実績例
【用途】 ○オプト・マイクロ・真空の蓄積技術を駆使し、実験冶具・評価機・生産機器 ●詳しくはカタログをご覧頂くか、もしくはお問い合わせください。
詳細情報
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光干渉センサー活用イメージ ○ガラス、樹脂の製品検査 （内部欠損、接着不良など） ○変位、厚さ測定
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光干渉センサー活用イメージ フィルム接着不良検査
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光干渉センサー活用イメージ レンズ中心厚み測定
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企業情報
当社は、光学機器、精密機器、真空装置等、研究開発用途の装置を設計から製作まで一括で行っております。