電極パターンに傷をつけない完全非接触検査装置
完全非接触検査装置「GX3」は、電極パターンに傷をつけない、大型PDP・液晶パネル向けの完全非接触検査装置です。超ファインパターン検査可能です。業界最高速を誇ります。第8世代へ対応しております。パターンへの傷はありません。パーティクル発生もありません。パターンなどに付着したゴミ等による、誤判定が生じる可能性は極小です。ランニングコストが不要になります。詳しくはカタログをダウンロードしてください。
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基本情報
【特長】 ○超ファインパターン検査可能 ○業界最高速 ○第8世代対応 ○パターンへの傷はなし。パーティクル発生無し ○パターンなどに付着したゴミ等による、誤判定が生じる可能性は極小 ○段取替え不要(レシピ切替で対応) ○検査のタクト：8世代クラス（TFT-LCD)で約95秒 ○検査可能ピッチ：最小ピッチ:50um、最小ライン巾:3um ○ランニングコスト不要 ●詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをダウンロードしてください。
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企業情報
弊社は創業以来、非接触検査装置の企画・製造・販売を行ってまいりました。当社検査装置の対象製品であるプリント基板やディスプレイの技術はめまぐるしく進化し続けており、多岐にわたる用途に応じて、高度な技術が求められ、それを検査する検査装置にもより高度な技術が求められます。非接触検査装置のエキスパートとして、最先端の検査技術でお客様のニーズにお応えできるよう、お客様へ積極的なご提案をしてまいります。