モデル1100は、最新規格に準拠したHBM試験、CDM試験をサポートいたしす。
静電破壊試験には、HBM（ヒューマンボディモデル）試験とCDM（チャージデバイスモデル）試験があります。HBM試験は、人間の体から発生する静電気による影響をシミュレーションするもので、デバイスが静電気にどの程度耐えられるかを評価します。一方、CDM試験は、デバイス自体が帯電した状態で他の物体に接触した際の影響を評価するものです。 ※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。
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基本情報
特長・機能 ○ MIL､EIA/JEDEC､JEITA､AEC､ESDA規格適合 ○ HBM試験、MM試験、FI-JEDEC試験、DI-JEITA試験 ○ V－Iカーブによる破壊判定機能 ○ 64ピンまでのピンコンビネーション試験に完全対応 ○ ワークエリアが広く、モジュールに対するCDM試験が可能 ※製品の仕様は予告なく変更になる場合がございます。ご了承下さい。
価格情報
オプションにより変わります。
価格帯
500万円 ~ 1000万円
納期
※お気軽にお問い合わせください。
用途／実績例
・IC（半導体） ・LSI（半導体） ・LCD（液晶パネル） ・LED（発光ダイオード）
企業情報
弊社は1977年に設立以来、多くの有力企業の半導体、電子部品の開発に貢献してきました。高速・高圧技術を始めとした静電気に関するノウハウをベースに、アナログ信号を高精度に計測・解析する各種製品およびシステムの製造、販売を行なっています。
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