低コスト、ポータブルなガラス厚み計測装置 ※独自の深度方向スキャン方式を採用することで装置の小型化、低コスト化に成功しました。
【製品概要】 本製品はOCT(光干渉断層像)技術を応用したガラスなど透明体の非破 壊断層計測装置です。計測用途に応じてペン型測定ユニットや平面測定システム、曲面測定システムを取り揃えています。 【特 徴】 ガラス、樹脂、結晶体など透明体の平面から不定の幅広い形状に対応できます。 0.03~10mmのロングレンジ計測、分解能は0.2μm以下です。
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基本情報
本OCTスキャナーは、独自の深度方向走査手法を採用することで高速でコンパクト、長ストローク、低コスト化に成功しました。 従来のOCTスキャナーは深度方向走査ステージとして主にPZT素子が採用されていましたが、PZT素子は高精度測定が可能である反面、狭ストロークで高価格なため工業用途への使用に課題がありました。 更に本OCTスキャナーでは、欠点である反射光ズレによる測定範囲制限を解消すべくオートトラッキング技術を融合することで、幅広い形状に対して対応が可能となりました。
価格帯
納期
用途/実績例
・フィルムの厚み計測 ・ガラス/樹脂レンズの中心肉厚計測、群レンズの空気間隔計測 ・チューブの外径/内径同時計測 ・樹脂、ガラス組立て品 ・押し出し成型、ブロー成型、射出成型品
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パルステック工業は、創業当初から「研究開発型モノづくり企業」を志向し、既存製品では対応困難な省力化機器や検査設備などを数多く手掛け、 お客様の生産性の向上や品質向上に寄与してまいりました。 「ポータブル型X線残留応力測定装置」や「蛍光検出ヘッド」は、今まで培ってきた要素技術を複合することにより自社開発した製品であり、各方面から高い評価を得ています。 解決困難な課題、特注設備、共同開発、技術者派遣などお客様のニーズに合わせ、最適な解決策をご提案いたしますので、お気軽にお問い合わせください。 カスタムニーズ(特殊仕様)に対応する技術者 X線取扱技術 ・X線作業主任者 37名 回路設計技術 ・電気機器組立技能者 3名 光学設計技術 ・国際光技術者 10名 機構設計技術 ・機械設計技術者 7名 ・金属材料試験技能者 19名 ・3次元CAD利用技術者 3名 ソフトウエア開発技術 ・情報技術者 23名 ・ソフトウエア品質技術者 2名 ・LabVIEW認定資格保有者 3名