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LED検査装置 発光チップの外観検査 DTLED-350

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最終更新日:2020年02月13日

ディスク・テック株式会社 本社
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まぶしくて見えないチップ欠損及び低輝度チップを高速センサーカメラで検出

DTLED-350は、目視ではまぶしくて見えない、マルチダイスLEDモジュールのチップ欠損及び低輝度チップを高速ラインセンサーカメラにて検出できる発光チップの外観検査です。LEDモジュールを検査台に載せてスタートボタンを押すだけで簡単に高精度な検査が可能です。UVLEDにも対応しています。 詳しくはお問い合わせください。

    外観検査装置欠陥検査装置光学測定器
seihin002a.jpg

LED検査装置 発光チップの外観検査 DTLED-350

seihin002a.jpg
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基本情報

【特徴】 ○マルチダイスLEDの欠損及び低輝度品を高速に検出 →目視ではまぶしくて見えない、マルチダイスLEDモジュールの  チップ欠損及び低輝度チップを高速ラインセンサーカメラにて検出 ○簡単に高精度な検査が可能 →LEDモジュールを検査台に載せてスタートボタンを押すだけ ○UVLEDにも対応 ○対応ワークサイズ:50mmX50mm(客先仕様に対応します) ○対応可能LEDモジュール:白色他可視色、UV ○検査時間:1SEC/個 ○使用カメラ:1024pix ラインセンサーカメラ ○外部入出力:10Base100 ○その他:汎用DIOを搭載可能 ○使用電源:AC100V(50Hz/60Hz) ●詳しくはお問い合わせください。

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ディスクテックの画像処理は社内光学系技術者、レーザー技術者、ハードウェア、ソフトウェア、精密機械技術者がトータルソリューションを提供します。赤外線を応用した検査装置、三次元検査装置など手がけています。自社製品の赤外線顕微鏡は10年以上の実績があります。

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