磁性体および非磁性金属上の被膜厚の測定ができるデュアルタイプの膜厚計です。
電磁膜厚計LE-373と渦電流膜厚計LH-373の両機能を備え、多様な素材、多様な被膜を扱う現場用として最適な膜厚計です。
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基本情報
■仕様 測定方式 電磁誘導/渦電流式兼用 測定対象 磁性体上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜 測定範囲 電磁誘導式:0～2500μmまたは99.0mils 渦電流式:0～1200μmまたは47.0mils 測定精度 50μm未満:±1μm、50μm以上1000μm未満:±2%、 1000μm以上:±3% 分解能 100μm未満:0.1μm、100μm以上:1μm データメモリ数 約39,000点 検量線メモリ アプリケーションメモリ: 電磁誘導式50本、渦電流式50本の検量線を記憶 プローブ 一点接触定圧式(LEP-J、LHP-J) 表示方法 デジタル(バックライト付LCD、表示最小桁0.1μm) 外部出力 パソコン(USBまたはRS-232C)、 プリンタ(RS-232C)に出力可能 電源 電池1.5V(単3アルカリ)×4 消費電力 80mW(バックライト非点灯時) 電池寿命 100時間(バックライト非点灯時、連続使用) 使用温度範囲 0～40℃
価格情報
数量によって価格が変動しますので、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
10万円 ~ 50万円
納期
※数量によって納期が変動しますので、お気軽にお問い合わせください。
用途／実績例
■構成品 本体、標準板セット、標準板ケース、鉄素地(FE-373)、アルミ素地(NFE-373)、プローブアダプタ、キャリングケース、電池1.5V(単3アルカリ)×4 ■オプション 標準板("フィルム、ベリリューム(1mm未満)")、標準板("ベリリューム(1mm以上)")、標準ペンシル型Fe用プローブ(LEP-J)、L字型Fe用プローブ(LEP-21L)、L字型NFe用プローブ(LHP-21L)、プローブアダプタ、鉄素地板(FE-J)、アルミ素地板(NFE-J)、ACアダプタ(100V )、標準板ケース(L-J)、プリンタ(VZ-330)、キャリングケース、McWAVE Lite、McWAVE Lite 2、McWAVE Standard、McWAVE Professional、McWAVE MultiProp、データ管理ソフト:「データロガー LDL-02」
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企業情報
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