インピーダンス・ミスマッチやロス、エンファシス、イコライゼーションの選択が信号品位にどのような影響を与えるかを解析出来ます。
SISTUDIOをご使用になることでインピーダンス・ミスマッチやロス、エンファシス、イコライゼーションの選択が測定対象物の信号品位にどのような影響を与えるかを解析出来ます。インポートされたTouchstone形式の実測Sパラメータファイルを使用して伝送路のエミュレートもしくは デエンベデッドを行うことができます。 エンファシスやイコライゼーションモデルとシミュレーションされる波形はユーザによる設定が可能で、生成されたEYEダイアグラムを表示・解析し、測定対象物と受信端でのEYE開口、ジッタ特性について詳細に調べることが可能です。 SISTUDIOはレクロイのSPARQソフトウエア・アプリケーション上で動きます。スタンドアローン版SISTUDIOを購入されたユーザはUSBライセンス・キーを使ってSPARQに接続する必要無しにSPARQアプリケーションのSISTUDIO機能のロックを解除出来ます。
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基本情報
●イコライズされた受信端信号のフル・シグナル・インテグリティ解析 ●高速EYE描画 ●先進のジッタ解析 ●実測と/またはシミュレーション・モデルによる伝送特性の協調シミュレーション ●伝送路とフィクスチャ特性のデエンベデッドとエミュレーション ●CTLE、DFEおよびFFEイコライザとPLLのエミュレーション ●ユーザPC上での独立使用も、LeCroyのSPARQと接続しての使用も可能。
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企業情報
テレダイン・レクロイ・ジャパン株式会社はTeledyne LeCroy Corporation （米国 ニューヨーク州）100%出資の子会社として1990年9月14日に 設立されました。 東京・大阪に営業部とサポート・センターを設置し、日本のお客様のニーズに お応えしています。 2001年11月16日にISO9001:2000を取得。 当社は、日本語の技術資料や解析ソフトウェア、技術セミナー等を無料で ご提供し、お客様の製品開発や問題解決に寄与していきたいと 願っております。
