低価格な顕微鏡サーモグラフィがついに登場！
サーマルヴューX MCRシリーズはハードウェアとソフトウェア共に微小領域計測に必要な機能と補正、キャリブレーションを備えています。微小領域を捉えるのに十分な感度をもつ検出器、解像に十分な光学系を搭載したうえで、微小領域特有の誤差を解決するための補正と専用キャリブレーションを行います。 さらにユーザーが状況に応じて補正できるようGUI上の専用機能を備えています。サーマルヴューX MCRシリーズはウェハ上のパターン、材料構造、微小加熱源、発光デバイス、微小封止材、微小部品・素材等の先端半導体、新しい製品向け製造者のための最新の顕微鏡サーモグラフィです。 低コストモデルからハイエンドまで様々なラインナップがあり、数多くの実績を持ちます。東京都中小企業振興公社様の海外展開支援事業の指定製品（2024年6月～2026年6月）であり、世界中の半導体、小型製品のモノづくり、微小領域の基礎研究に携わる方々にご利用いただいております。
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基本情報
非冷却サーモグラフィサーマルヴューX MCRシリーズは以下の性能を持っています。 画素数：320x256、640x512 3倍顕微鏡：8.77μm解像度（5.67μmスポットサイズ）、ワーキングディスタンス＝11mm 2倍顕微鏡：8.77μm解像度（8.5μmスポットサイズ）、ワーキングディスタンス＝11mm 1.25倍顕微鏡：20μm解像度（13.5μmスポットサイズ）、ワーキングディスタンス＝42mm 1倍顕微鏡：17μm解像度（17μmスポットサイズ）、ワーキングディスタンス＝20mm 0.6倍顕微鏡：28.4μm解像度（28.4μmスポットサイズ）、ワーキングディスタンス＝48.6mm 0.3倍顕微鏡：56.7μm解像度（56.7μmスポットサイズ）、ワーキングディスタンス＝229mm 計測温度範囲：15～400℃（ご相談下さい） 使用環境温度：18～28℃で室温安定下
価格帯
納期
用途／実績例
電子基板上の微小部品（抵抗、ICなど）の熱分布変化 微小部品の品質管理 製造微小部品の製造管理・オートメーション 新規開発デバイス（素材、OLEDなど）の評価
ラインアップ（11）
| 型番 | 概要 |
|---|---|
| XMCR32-XA0351-3xV2HT | 320x256画素、8.77μm解像度（5.67μmスポットサイズ） |
| XMCR64-XA0653-3xV2HT | 640x512画素、8.77μm解像度（5.67μmスポットサイズ） |
| XMCR32-XA0351-2xHT | 320x256画素、8.77μm解像度（8.5μmスポットサイズ） |
| XMCR64-XA0653-2xHT | 640x512画素、8.77μm解像度（8.5μmμmスポットサイズ） |
| XMCR32-XA0351-1.25xHT | 320x256画素、20μm解像度（13.5μmスポットサイズ）、ワーキングディスタンス＝42mm |
| XMCR64-XA0653-1.25xHT | 640x512画素、20μm解像度（13.5μmスポットサイズ）、ワーキングディスタンス＝42mm |
| XMCR32-XA0351-1xHT | 320x256画素、17μm解像度（17μmスポットサイズ）、ワーキングディスタンス＝20mm |
| XMCR64-XA0653-1xHT | 640x512画素、17μm解像度（17μmスポットサイズ）、ワーキングディスタンス＝20mm |
| XMCR32-XA0351-06xHT | 320x256画素、28.4μm解像度（28.4μmスポットサイズ）、ワーキングディスタンス＝48.6mm |
| XMCR64-XA0653-06xHT | 640x512画素、28.4μm解像度（28.4μmスポットサイズ）、ワーキングディスタンス＝48.6mm |
| XMCR64-XA0653-03xHT | 640x512画素、56.7μm解像度（56.7μmスポットサイズ）、ワーキングディスタンス＝229mm |
企業情報
あらゆる製造や研究に温度計測は必須ですが必ずしも正しく測れる内容だけではありません。熱電対では計測できない極小エリア、僅かな温度変化を計測するシステム・アプリケーションと統計解析ツールの製造、開発、販売を行っています。国公立研究所、大学、半導体関連・医学関連民間企業、病院実績多数。