モデル1100-CDMは、ICに対するCDM試験（誘導帯電および直接充電）を簡単かつ正確に実施することができます。
CDM試験装置は、静電気が帯電している電子部品の金属電極部が外部の金属に触れたり、また、帯電した物体(例えば人体)に接触している金属が、電子部品の金属電極に接触したときに生じる極めて高速の電荷移動によって生じるストレスにより、電子部品が壊れる場合の、電子部品の信頼性を測定する試験装置です。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
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基本情報
【特徴】 ○ ANJS/ESDA/JEDEC JS-002対応 ○ 最大印加電圧は4000V ○ 誘導帯電および直接充電方式のCDM試験 ○ カメラと高精度ロボットによる正確な位置合わせ ○ デバイスピンの形状に合わせ印加ピンは交換可能 ○ デバイスピン(BGA)に荷重を掛けないポゴピン構造 ○ CDM放電の検出機能 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
価格情報
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価格帯
500万円 ~ 1000万円
納期
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用途／実績例
【用途】 ○デバイスの開発設計評価 ○デバイスの認定受入検査 ○デバイスの品質保証試験 ○デバイスの取扱環境評価 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
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企業情報
弊社は1977年に設立以来、多くの有力企業の半導体、電子部品の開発に貢献してきました。高速・高圧技術を始めとした静電気に関するノウハウをベースに、アナログ信号を高精度に計測・解析する各種製品およびシステムの製造、販売を行なっています。
