ESD試験/CDM試験/ラッチアップ試験を1台でサポートするコストパフォーマンス に優れた試験装置です。
モデル1200シリーズは、1台でESD/CDM/LATCH-UP試験を可能とした試験器で、最大256ピンのプログラマブルピンコンビーネーションにより安定かつ効率の良い試験を保証いたします。 最大の特長は、ワークエリアの広さで、複雑な形状の半導体デバイス、基板実装部品、モジュール製品へのESD/CDM印加を可能としました。 また、用途に合わせたDUTボードを製作することで、LED部品から多ピンデバイスまで幅広い製品評価に御使用いただけます。 【特徴】 ○1台でHBM、MM、CDM、ラッチアップ試験の 4種以上の信頼性評価試験が可能 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
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基本情報
【特徴】 ○MIL､EIA/JEDEC､JEITA､AEC､ESDA規格適合 ○１台でHBM、MM、CDM、LATCH-UP4種以上の信頼性評価試験が可能 ○最大印加電圧 8000V ○最大印加ポイント1500ピン ○印加前後のV-Iカーブ比較による破壊判定機能 ○精密測定電源による、nA単位でのリーク判定が可能 ○カメラ搭載により、微細部品・チップ部品への直接印加が可能 ○基板実装部品、特殊形状部品、モジュール製品の試験が可能 ○イミュニティ試験を応用したデバイス評価 ○電源端子への高速パルス印加が可能 ○高温器を接続して最大125℃までのラッチアップ試験可能 ○ラッチアップ発生過程のモニタ ○LAN回線を接続することにより、 遠地からの試験条件の作成、試験の開始指令の外データ収集等可能 ○試験結果は、PC上のデータベースにより管理可能 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
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用途／実績例
【用途】 ○デバイスの開発設計評価 ○デバイスの認定受入検査 ○デバイスの品質保証 ○デバイスの取扱環境評価 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
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企業情報
弊社は1977年に設立以来、多くの有力企業の半導体、電子部品の開発に貢献してきました。高速・高圧技術を始めとした静電気に関するノウハウをベースに、アナログ信号を高精度に計測・解析する各種製品およびシステムの製造、販売を行なっています。
