Wafer上で波形保証の実現
開発プロセス、WaferやチップレベルでのESD試験の必要、且つ重要性が増している中、今後、飛躍的にそのニーズは高まるものと予測されています。 本装置は、完成品パッケージのESD試験で蓄積された技術の集大成として開発され、ついにWafer・LevelでのESD試験を可能にしました。 【ラインナップ】 ○HED-W5040 ○HED-W5000M 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
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基本情報
【仕様】 ○リーク用測定電流 0～±100mA ○リーク用測定電流ステップ 0.01μA ○リーク用測定電流精度 0.5%±(1/500F.S. ±10nA) ○リーク用測定電圧 0～±40V ○リーク用測定電圧ステップ 0.1V ○リーク用測定ポイント数 MAX 20ポイント ○測定テーブル MAX 10テーブル ○測定結果出力形式 表形式、グラフ形式、CSV保存形式 ○電源電圧 100V/15A 50/60Hz ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
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企業情報
弊社は、半導体の品質管理に不可欠な評価測定や解析のための検査装置を開発・製造しているメーカーです。半導体業界で静電気放電（ESD: Electronic Static Discharge)技術を用いた測定、解析の分野では、国内シェア70%以上誇り、確固たる地位を築いています。 Chance（チャンス）、Challenge（チャレンジ）、Change（チェンジ）を合言葉に、時代や社会の変化を捉え、最先端技術の世界で常に進化し続けるべく、全社一丸となって邁進して参ります。
