Waferレベル、パッケージ品のESD試験が可能！
WaferESD試験器 HED-W5100Dは、300mmウェハーまで対応できる自動印加/自動測定のESD試験器です。 完璧な安全機能を装備し、フレンドリーで使いやすい操作性を実現しています。 ウェハーの試験チップや印加ポジションの選択を含めた試験条件は、全てモニター上から設定可能。作業性の向上に大きく貢献します。 また、本装置は一般のパッケージ品に対しても試験が可能です。 【特徴】 ○最大300mmのウェハーに対応 ○印加ピンでの波形保証 ○多様な規格波形への対応 ○画像認識機能（オプション） 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
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基本情報
【特徴】 ○チップサイズを入力するだけで試験有効チップのエリアを作成できる ○最大99mm×99mmの範囲で自動印加できる ○PassとFailの試験結果はカラー色で自動識別して、 ウェハー上のESD耐性分布を視覚的に見ることができる ○マルチ・チップへの印加に対して、 4階層に分けた印加のワーク条件を設定することができる ○各試験チップの試験データを保存することができる ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
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企業情報
弊社は、半導体の品質管理に不可欠な評価測定や解析のための検査装置を開発・製造しているメーカーです。半導体業界で静電気放電（ESD: Electronic Static Discharge)技術を用いた測定、解析の分野では、国内シェア70%以上誇り、確固たる地位を築いています。 Chance（チャンス）、Challenge（チャレンジ）、Change（チェンジ）を合言葉に、時代や社会の変化を捉え、最先端技術の世界で常に進化し続けるべく、全社一丸となって邁進して参ります。
